[发明专利]基于光限幅的激光脉冲对比度测量装置

摘要

本发明提供了一种基于光限幅的激光脉冲对比度测量装置。所述的测量装置中，在高功率激光脉冲入射方向上依次放置准直镜、衰减片、分束镜Ⅰ，在分束镜Ⅰ的透射光路上依次设置倍频晶体、滤波片、分束镜Ⅱ，在分束镜Ⅰ的反射光路上依次设置半波片、分束镜Ⅲ；在分束镜Ⅲ的反射光路上依次设置凸透镜Ⅰ、限幅器、凸透镜Ⅱ、延迟调节器，由倍频晶体产生的倍频光经分束镜Ⅱ分成透射和反射两部分，分别与来自分束镜Ⅲ的透射和反射基频光并行进入两个三阶相关仪，两个三阶相关仪产生的相关信号经CCD采集，最后通过计算机进行数据处理。本发明调节灵活方便，测试动态范围宽。

主权项

一种基于光限幅的激光脉冲对比度测量装置，其特征是：所述的测量装置中，在高功率激光脉冲入射方向上依次放置准直镜（1）、衰减片（2）、分束镜Ⅰ（3）；入射脉冲光经分束镜Ⅰ（3）分成透射光和反射光，在分束镜Ⅰ（3）的透射光路上依次设置有倍频晶体（4）、滤波片（5）、分束镜Ⅱ（6），在分束镜Ⅰ（3）的反射光路上依次设置有半波片（7）、分束镜Ⅲ（8）；分束镜Ⅰ（3）的透射光经倍频晶体（4）产生倍频光，所述的倍频光通过滤波片（5）滤除剩余的基频光后投射到分束镜Ⅱ（6）上分成透射倍频光和反射倍频光，分束镜Ⅰ（3）的反射光通过半波片（7）后投射到分束镜Ⅲ（8）上，经分束镜Ⅲ（8）分成透射基频光和反射基频光；分束镜Ⅲ（8）的透射基频光与分束镜Ⅱ（6）的反射倍频光并行进入三阶相关仪Ⅰ（9），在三阶相关仪Ⅰ（9）产生的三倍频光束方向上依次放置滤波衰减片（10）、柱状透镜Ⅰ（11）、CCDⅠ（12），由三阶相关仪Ⅰ（9）产生的三倍频光束依次通过滤波衰减片（10）、柱状透镜Ⅰ（11），进入CCDⅠ（12）；分束镜Ⅲ（8）的反射光路上依次设置凸透镜Ⅰ（13）、限幅器（14）、凸透镜Ⅱ（15）、延迟调节器（16），所述的分束镜Ⅲ（8）的反射基频光通过凸透镜Ⅰ（13）、限幅器（14）、凸透镜Ⅱ（15）、延迟调节器（16）后与分束镜Ⅱ（6）的透射倍频光并行进入三阶相关仪Ⅱ（17），在三阶相关仪Ⅱ（17）产生的三倍频光束方向上依次放置滤波衰减片Ⅱ（18）、柱状透镜Ⅱ（19）、CCDⅡ（20），由三阶相关仪Ⅱ（17）产生的三倍频光束依次通过滤波衰减片Ⅱ（18）、柱状透镜Ⅱ（19），进入CCDⅡ（20）；所述的CCDⅠ（12）、CCDⅡ（20）分别外接计算机，来自CCDⅠ（12）、CCDⅡ（20）的信号最后进入计算机进行数据处理。