[发明专利]光学的弯曲曲率测试方法及传感器

摘要

本发明涉及光纤传感领域的测量技术，为提供结构简单、插入损耗小、精度高、无需在光纤上刻蚀光栅的传感器，而且该传感器能够消除外界温度的交叉影响，可以提高检测精度。为此，本发明采用的技术方案是，光学的弯曲曲率测试方法及传感器，包括下列步骤：（1）测量单根纤芯的弯曲特性：监测干涉谱峰值随弯曲曲率变化而变化的情况；（2）测量单根纤芯的温度特性（3）利用两根纤芯进行弯曲特性的检测：（4）计算弯曲曲率本发明主要应用于曲率测量。

主权项

一种光学的弯曲曲率测试方法，其特征是，包括如下步骤：（1）测量单根纤芯的弯曲特性：监测干涉谱峰值随弯曲曲率变化而变化的情况；（2）测量单根纤芯的温度特性在（1）的基础上让光纤保持某一弯曲状态或者让其处于直线状态下不变，改变环境的温度，同样用宽带光源作为输入，利用光谱仪实时监测输出的干涉谱峰值随温度变化而变化的情况；（3）利用两根纤芯进行弯曲特性的检测：在（1）的基础上利用两根纤芯进行弯曲曲率的检测，输入光源为宽带光源，利用光谱仪接收两根纤芯的输出干涉谱线，实时记录两根纤芯输出的干涉谱线峰值的变化情况；（4）计算弯曲曲率在（3）的基础上可以计算出两根纤芯在不同弯曲状态下干涉峰/谷波长的变化量，再将这两根纤芯对应的波长变化量做差，得到的是一个与温度无关的波长变化量，这个变化量与光纤弯曲状态是一一对应的，通过绘图软件便可以绘制出一个波长变化量与弯曲曲率之间关系图。