[发明专利]基于对数掺杂变In组分反射式结构GaAs光电阴极有效

专利信息
申请号: 201410010132.2 申请日: 2014-01-03
公开(公告)号: CN103745899A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 陈亮;沈洋;周占春;郭海龙;金尚忠;张淑琴;杨润光;沈为民;常本康;钱芸生;周木春 申请(专利权)人: 中国计量学院
主分类号: H01J1/34 分类号: H01J1/34;H01J40/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310018 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于对数掺杂变In组分负电子亲和势GaAs光电阴极,该光电阴极是由高质量P型GaAs衬底、过渡层、p-GaAlAs缓冲层、p型GaAs发射层以及Cs/O激活层组成,其中连接衬底层和p-GaAlAs缓冲层之间的过渡层由m个变In的外延材料构成的单元层组成,m的取值范围为1≤m≤20;对于p型GaAs发射层采用电场减少型的对数掺杂结构,发射层的掺杂浓度按照N(x)=N0logaAx,(0<a<1)规律变化;发射层厚度选择为8μm,梯度浓度从1×1021cm-3到1×1016cm-3渐变。该阴极的优点在于通过过渡层以及缓冲层的变In结构对阴极进行界面修饰,然后自然过渡到发射层,提高了其量子效率;另一方面对数掺杂提高了阴极中电子的平均输运距离,从而也提高了其量子效率。
搜索关键词: 基于 对数 掺杂 in 组分 反射 结构 gaas 光电 阴极
【主权项】:
一种基于对数掺杂变In组分反射式结构GaAs的光电阴极,其特征在于:该光电阴极是由高质量P型GaAs(100)衬底(1)、过渡层(2)、p‑GaAlAs缓冲层(3)、p型GaAs发射层(4)以及Cs/O激活层(5)组成;所述连接衬底层和p‑GaAlAs缓冲层之间的过渡层由m个变In的外延材料构成的单元层组成,m的取值范围为1≤m≤20,在每个单位层中In的组分是逐渐减少的;所述p型GaAs发射层采用电场减少型的对数掺杂结构。
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