[发明专利]一种黑索金颗粒表面粗糙度检测方法

摘要

本发明公开了一种黑索金颗粒表面粗糙度检测方法，该方法通过将黑索金粗品颗粒精制，确定取样长度和评定长度，测量待测样品的表面粗糙度，计算轮廓算术平均偏差平均值与轮廓算术平均偏差示值误差，最后报告与表示。本发明采用光学法进行测试，实现了无损、非接触测试，量化黑索金颗粒表面粗糙度值，以此分析和评价高品质黑索金。

主权项

1.一种黑索金颗粒表面粗糙度检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤一，将黑索金粗品颗粒精制，具体的精制过程如下所述：25℃时，在搅拌状态下，将黑索金均分五次加入丙酮中，黑索金与丙酮之间的质量比为40：100，待黑索金完全溶解后，降温至-10℃，有晶体析出，过滤，干燥，得到精制后的黑索金颗粒；步骤二，确定取样长度L_取样=0.1mm，评定长度L_评定=0.3mm；步骤三，测量待测样品的表面粗糙度：使用激光共聚焦显微镜测量每一个待测样品的表面粗糙度，进行测试时，首先采用LED冷光源白光进行照射，镜头放大倍数为5倍，调整视场后换至50倍放大镜头，激光共聚焦显微镜中的激光光源采用激光能量为1毫瓦，激光波长为405nm的半导体激光光源，三维图采集时选用1000层切片模式，图像分辨率选用4096×4096；依据如下公式计算得出待测样品的轮廓算术平均偏差：Sa=1nΣi=1n|yi|]]>式中：Sa表示轮廓算术平均偏差；n为取样范围内测量次数；y_i为待测样品上各点至轮廓评定基准线的距离，所述的轮廓评定基准线是指轮廓的最小二乘中线，评定表面粗糙度参数的基准线，它是指在取样长度内使轮廓线上各点的轮廓偏距平方和为最小的线；步骤四，计算轮廓算术平均偏差平均值与轮廓算术平均偏差示值误差，通过轮廓算术平均偏差、轮廓算术平均偏差平均值和轮廓算术平均偏差示值误差、示值重复性平均值以及示值稳定性平均值来表示黑索金颗粒表面粗糙度。