[发明专利]基于高阻ZnO单晶的光电导型X射线探测器及其制备方法有效
申请号: | 201410014550.9 | 申请日: | 2014-01-13 |
公开(公告)号: | CN103794674A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
发明(设计)人: | 贺永宁;陈亮;赵小龙;刘晗;欧阳晓平 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | H01L31/102 | 分类号: | H01L31/102;H01L31/0296;H01L31/0224;H01L31/18 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 陆万寿 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于高阻ZnO单晶的光电导型X射线探测器,包括ZnO单晶基片,ZnO单晶基片的上表面镀有上电极及环形结构的保护环,上电极位于保护环的中部,保护环与上电极之间有均匀间隙,ZnO单晶基片的下表面镀有下电极,上电极及保护环自上到下依次均包括第一Al膜层及第一AZO膜层,下电极自上到下依次包括第二AZO膜层及第二Al膜层;相应的,本发明还提供了一种基于高阻ZnO单晶的光电导型X射线探测器的制备方法,本发明制备的基于高阻ZnO单晶的光电导型X射线探测器耐高压性强,同时具有低噪声的特性,并且成本低。 | ||
搜索关键词: | 基于 zno 电导 射线 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种基于高阻ZnO单晶的光电导型X射线探测器,其特征在于,包括ZnO单晶基片(1),ZnO单晶基片(1)的上表面镀有上电极(7)及环形结构的保护环(6),上电极(7)位于保护环(6)的中部,保护环(6)与上电极(7)之间设为均匀间隙,ZnO单晶基片(1)的下表面镀有下电极(8),上电极(7)及保护环(6)自上到下依次均包括第一Al膜层(3)及第一AZO膜层(2),下电极(8)自上到下依次包括第二AZO膜层(4)及第二Al膜层(5)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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