[发明专利]基于高阻ZnO单晶的光电导型X射线探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201410014550.9 申请日: 2014-01-13
公开(公告)号: CN103794674A 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 贺永宁;陈亮;赵小龙;刘晗;欧阳晓平 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: H01L31/102 分类号: H01L31/102;H01L31/0296;H01L31/0224;H01L31/18
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 陆万寿
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于高阻ZnO单晶的光电导型X射线探测器,包括ZnO单晶基片,ZnO单晶基片的上表面镀有上电极及环形结构的保护环,上电极位于保护环的中部,保护环与上电极之间有均匀间隙,ZnO单晶基片的下表面镀有下电极,上电极及保护环自上到下依次均包括第一Al膜层及第一AZO膜层,下电极自上到下依次包括第二AZO膜层及第二Al膜层;相应的,本发明还提供了一种基于高阻ZnO单晶的光电导型X射线探测器的制备方法,本发明制备的基于高阻ZnO单晶的光电导型X射线探测器耐高压性强,同时具有低噪声的特性,并且成本低。
搜索关键词: 基于 zno 电导 射线 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
一种基于高阻ZnO单晶的光电导型X射线探测器,其特征在于,包括ZnO单晶基片(1),ZnO单晶基片(1)的上表面镀有上电极(7)及环形结构的保护环(6),上电极(7)位于保护环(6)的中部,保护环(6)与上电极(7)之间设为均匀间隙,ZnO单晶基片(1)的下表面镀有下电极(8),上电极(7)及保护环(6)自上到下依次均包括第一Al膜层(3)及第一AZO膜层(2),下电极(8)自上到下依次包括第二AZO膜层(4)及第二Al膜层(5)。
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