[发明专利]一种光纤用四氯化锗中痕量砷的检验方法无效

专利信息
申请号: 201410015792.X 申请日: 2014-01-14
公开(公告)号: CN103743736A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 普世坤;莫正辉;鲍开宏;浦勇;张国颖;田毅凡;祁君芳 申请(专利权)人: 云南临沧鑫圆锗业股份有限公司;武汉云晶飞光纤材料有限公司
主分类号: G01N21/78 分类号: G01N21/78
代理公司: 昆明祥和知识产权代理有限公司 53114 代理人: 和琳
地址: 677000 云南省临沧市*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 一种光纤用四氯化锗中痕量砷的检验方法,属于高纯锗材料制备过程中的产品质量检验方法,尤其是一种光纤用四氯化锗中痕量砷的检验方法。采用在盐酸溶液中用过氧化氢在低温下氧化四氯化锗中的痕量砷(Ⅲ)为砷(Ⅴ),然后在低温下蒸发除去四氯化锗基体,蒸干以后再在盐酸溶液中用氯化亚锡把砷(Ⅴ)还原成砷(Ⅲ),再用无砷锌粒将砷(Ⅲ)还原成砷化氢,所生成的砷化氢气体与溴化汞试纸片作用,生成黄棕色的砷化汞斑点,斑点颜色的深浅与砷含量成正比,借此与标准色阶进行比较后得出砷含量。本发明的检验方法,简便易行,不受实验室的条件限制,是一种结果可靠的测量方法,能够确保产品中砷含量检验的准确性和科学性。
搜索关键词: 一种 光纤 氯化 痕量 检验 方法
【主权项】:
1.本发明一种光纤用四氯化锗中痕量砷的检验方法,其特征在于该方法是通过以下的步骤实现的:(1)在盐酸溶液中用过氧化氢(H2O2)在低温下氧化四氯化锗中的痕量砷(Ⅲ)为砷(Ⅴ);(2)在低温下蒸发除去四氯化锗基体;(3) 蒸干以后再在盐酸溶液中用氯化亚锡(SnCl2)把砷(Ⅴ)还原成砷(Ⅲ);(4)再用无砷锌粒将砷(Ⅲ)还原成砷化氢;(5)所生成的砷化氢气体与溴化汞试纸片作用,生成黄棕色的砷化汞斑点,斑点颜色的深浅与砷含量成正比,与标准色阶进行比较后得出试样砷量;(6)配制砷标准溶液,获得一系列不同颜色深度的溴化汞纸片作为标准色阶,并从标准色阶上查得空白砷量;(7)按下式计算砷的质量分数wAs,数值以百分含量表示:100式中:1为从标准色阶上查得的试样砷量,单位μg;2为从标准色阶上查得的空白砷量,单位μg;V为被测痕量砷的样品体积,单位mL。
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