[发明专利]一种微阵列点样装置有效
申请号: | 201410018076.7 | 申请日: | 2014-01-15 |
公开(公告)号: | CN103712956A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 许吉英;陈义 | 申请(专利权)人: | 中国科学院化学研究所 |
主分类号: | G01N21/55 | 分类号: | G01N21/55 |
代理公司: | 北京庆峰财智知识产权代理事务所(普通合伙) 11417 | 代理人: | 刘元霞;谢蓉 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提出一种微阵列点样装置,包括点样单元、基片固定调节单元和微量样品存储及输送单元。本发明易于构建,操作简便,可以制备各种可寻址微点阵、微条阵。由于点样针与待点样基片不接触,对点样针和待点样基片无损伤,特别适合于制作表面等离子体共振成像用的纳米级厚度的传感膜芯片。 | ||
搜索关键词: | 一种 阵列 装置 | ||
【主权项】:
一种微阵列点样装置,其特征在于,所述装置包括点样单元、基片固定调节单元和微量样品存储及输送单元,所述点样单元包括点样针和点样针固定调节机构,所述点样针与基片不接触。
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