[发明专利]用于检测中心线卡尺的附件及检测中心线卡尺的方法有效
| 申请号： | 201410018250.8 | 申请日： | 2014-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN103791797A | 公开（公告）日： | 2014-05-14 |
| 发明（设计）人： | 农宁宁;卢从俊 | 申请（专利权）人： | 北京东方计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01B5/14 | 分类号： | G01B5/14 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 吴小灿 |
| 地址： | 100086 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于检测中心线卡尺的附件及检测中心线卡尺的方法，所述用于检测中心线卡尺的附件包括左夹块和右夹块，每个夹块包括固定柄和基准块，所述固定柄和基准块一体连接，所述固定柄包括竖直基准平面，所述基准块包括水平基准平面和待测圆柱孔，水平基准平面和竖直基准平面相互垂直，水平基准平面和竖直基准平面构成内凹结构，所述内凹结构与量块的棱结构适配，所述待测圆柱孔平行于水平基准平面及竖直基准平面。检测中心线卡尺的方法使用了所述附件。本发明用于检测中心线卡尺。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 中心线 卡尺 附件 方法 | ||
【主权项】：
用于检测中心线卡尺的附件，其特征在于，包括左夹块和右夹块，每个夹块包括固定柄和基准块，所述固定柄与基准块连接，所述固定柄包括竖直基准平面，所述基准块包括水平基准平面和待测圆柱孔，水平基准平面与竖直基准平面相互垂直，水平基准平面和竖直基准平面构成内凹结构，所述内凹结构与量块的棱结构适配，所述待测圆柱孔平行于所述水平基准平面及所述竖直基准平面。
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