[发明专利]用于反向波束成形的系统和方法有效
| 申请号： | 201410019458.1 | 申请日： | 2014-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN103919574B | 公开（公告）日： | 2017-06-27 |
| 发明（设计）人： | K.W.里格比 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | A61B8/00 | 分类号： | A61B8/00;A61B8/08 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 易皎鹤,汤春龙 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种针对时延反向波束成形的系统和方法。一种方法包括在时间上大体均匀地对连续时间单元信号集合采样以便形成采样单元信号集合；以及针对每个采样单元信号，将大体等时间间隔的一个或多个样本映射至对应于每个单元信号在连续时间波束和信号中的比重而非等时间间隔的一个或多个样本上。所述方法还包括形成在时间上大体均匀地从非均匀间隔的映射样本采样的波束和信号，所述非均匀间隔的映射样本对应于每个采样单元信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 反向 波束 成形 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种波束成形方法，所述方法包括：在时间上大体均匀地对连续时间单元信号集合采样以便形成采样单元信号集合；针对每个采样单元信号，将整数样本时间的多个单元信号样本映射至非整数样本时间的多个波束和样本上，这对应于每个单元信号对连续波波束和信号的相应贡献；以及对从非整数样本时间的映射样本采样的波束和样本插值以得到所需的整数样本时间上的波束和样本；其中，所述整数样本时间是指均匀间隔样本时间中的一个；所述非整数样本时间指不是采样时间间隔整数倍的样本时间。
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