[发明专利]一种在印刷品检测系统中使用的缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201410023736.0 申请日: 2014-01-20
公开(公告)号: CN103808731A 公开(公告)日: 2014-05-21
发明(设计)人: 陈绍义;尹方宏;彭晓辉;孟凤;杨富森;马志兴;毛嵘;赵佳 申请(专利权)人: 北京大恒图像视觉有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京律谱知识产权代理事务所(普通合伙) 11457 代理人: 王庆海;黄云铎
地址: 100085 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种在印刷品检测系统中使用的缺陷检测方法,其包括:1、将成型后的产品划分成多个关注区域,每个关注区域对应有一个缺陷关注度;2、采集产品图像;3、将采集的产品图像与标准图像进行对比,找出颜色不同的像素点;4、基于找出的颜色不同的像素点,获得缺陷平均颜色值和缺陷面积;5、根据获得的缺陷关注度、缺陷面积、缺陷平均颜色值和缺陷位置处的标准颜色值,来得到缺陷评估值;6、将得到的缺陷评估值和阈值进行比较,缺陷评估值大于或等于阈值的产品为一级不合格品,反之为二级不合格品。
搜索关键词: 一种 印刷品 检测 系统 使用 缺陷 方法
【主权项】:
一种在印刷品检测系统中使用的缺陷检测方法,其包括:a)将成型后的产品划分成多个关注区域,每个关注区域对应有一个缺陷关注度;b)采集产品图像;c)将采集的产品图像与标准图像进行对比,找出颜色不同的像素点;d)基于找出的颜色不同的像素点,获得缺陷面积和缺陷平均颜色值以及与该缺陷面积相对应的标准图像上相应区域的标准平均颜色值;e)根据获得的缺陷平均颜色值以及相对应的标准平均颜色值,得到所述缺陷面积的颜色差异;f)根据获得的缺陷关注度、缺陷面积和该缺陷面积的颜色差异,来得到缺陷评估值;g)将得到的缺陷评估值和阈值进行比较,缺陷评估值大于或等于阈值的产品为一级不合格品,反之为二级不合格品。
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