[发明专利]利用六方氮化硼纳米片生长高质量氮化镓晶体的方法有效

专利信息
申请号: 201410024671.1 申请日: 2014-01-20
公开(公告)号: CN103741221A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 郝霄鹏;李先磊;张雷;邵永亮;吴拥中;戴元滨;田媛;霍勤 申请(专利权)人: 山东大学
主分类号: C30B29/40 分类号: C30B29/40;C30B25/18
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 宁钦亮
地址: 250100 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种利用六方氮化硼纳米片生长高质量氮化镓晶体的方法,包括以下步骤:(1)配制浓度0.005-0.075mg/ml的六方氮化硼纳米片与溶剂的分散液;(2)将配好的分散液直接涂于用于制备GaN晶体的衬底上,然后在真空干燥箱内40℃-120℃干燥1-8小时;(3)将制备好的衬底放入氢化物气相外延(HVPE)系统中进行GaN晶体外延生长。该方法减小了GaN单晶的位错密度,GaN晶体质量有明显的提高,无需采用复杂、昂贵的工艺制备具有特殊结构的氮化镓基板,工艺简单,成本低廉,且生长温度低,适用于批量生产。
搜索关键词: 利用 氮化 纳米 生长 质量 晶体 方法
【主权项】:
一种利用六方氮化硼纳米片生长高质量氮化镓晶体的方法,其特征是,包括以下步骤:(1)配制浓度0.005‑0.075mg/ml的六方氮化硼纳米片与溶剂的分散液,所述溶剂为乙醇或丙醇或者是乙醇与水体积比为1:1的混合液;(2)将配好的分散液直接涂于用于制备GaN晶体的衬底上,然后在真空干燥箱内40℃‑120℃干燥1‑8小时;(3)将制备好的衬底放入氢化物气相外延(HVPE)系统中进行GaN晶体外延生长。
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