[发明专利]X射线成像系统的校正方法有效
| 申请号： | 201410024798.3 | 申请日： | 2014-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN104783824B | 公开（公告）日： | 2020-06-26 |
| 发明（设计）人： | 倪成 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201815 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线成像系统的校正方法，包括如下步骤：a)利用投影矩阵描述三维空间点与其投影在二维平板探测器上的像素点之间的对应关系，并将所述投影矩阵划分为第一投影子矩阵和第二投影子矩阵；b)对所述第一投影子矩阵进行快速校正；c)合并校正后的第一投影子矩阵和所述第二投影子矩阵得到完整的投影矩阵对X射线成像进行校正。本发明提供的X射线成像系统的校正方法，通过将易变部分和稳定部分分开处理，从而不需要使用校正模体也可实现对射野成像、锥形束断层成像或扇形束成像等进行在线快速的几何矫正。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 成像 系统 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线成像系统的校正方法，其特征在于，包括如下步骤：a)利用投影矩阵描述三维空间点与其投影在二维平板探测器上的像素点之间的对应关系，并将所述投影矩阵划分为第一投影子矩阵和第二投影子矩阵；b)对所述第一投影子矩阵进行快速校正；c)合并校正后的第一投影子矩阵和所述第二投影子矩阵得到完整的投影矩阵对X射线成像进行校正。
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