[发明专利]磁场测量装置

摘要

本发明的磁场测量装置采用比现有技术简单的结构，对沿着探测光的方向的磁场梯度进行测量。本发明的探测光照射部(3)对探测光进行照射。气室(1)被配置在探测光的光轴上，对于探测光在第1轴以及第2轴上示出线性二色性。气室(2)，在探测光的光轴上相对于气室(1)被配置在探测光照射部(3)的相反侧，对于探测光在与第1轴以及第2轴不同的第3轴以及第4轴上示出线性二色性。测量部(4)，基于透过了气室1以及气室2的探测光的偏振面的变化量，对气室(1)中的磁场和气室(2)中的磁场之差进行测量。

主权项

一种磁场测量装置，其特征在于，具有：探测光照射部，其照射探测光；第1介质，其被配置在所述探测光的光轴上，对于所述探测光在第1轴以及第2轴上示出线性二色性；第2介质，其在所述探测光的光轴上相对于所述第1介质被配置在所述照射部的相反侧，且对于所述探测光在与所述第1轴以及所述第2轴不同的第3轴以及第4轴上示出线性二色性；和测量部，其基于透过了所述第1介质以及所述第2介质的所述探测光的偏振面的变化量，对所述第1介质中的磁场与所述第2介质中的磁场之差进行测量。