[发明专利]射频集成电路芯片及其形成方法有效
申请号: | 201410025095.2 | 申请日: | 2014-01-20 |
公开(公告)号: | CN104795350B | 公开(公告)日: | 2017-12-01 |
发明(设计)人: | 朱岩岩;侯飞凡 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762;H01L23/66 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种射频集成电路芯片及其形成方法,所述射频集成电路芯片包括绝缘体上半导体结构,其包括基底、埋氧化层和半导体衬底,所述半导体衬底中具有浅沟槽隔离结构;填充层,贯穿所述浅沟槽隔离结构和所述埋氧化层,并填充部分所述基底以将所述基底与所述浅沟槽隔离结构和所述埋氧化层隔开;介质层,位于所述半导体衬底、所述浅沟槽隔离结构和所述填充层上;射频器件,位于所述介质层上。由于基底与埋氧化层之间被填充层隔开,因此基底与浅沟槽隔离结构或埋氧化层之间不形成电荷反型层或电荷积聚层,进而防止基底出现类似于沟道的导电层,因而射频器件与基底之间不会存在耦合电容,射频信号通过器件时,不会发生谐波失真,提高射频信号的传输质量。 | ||
搜索关键词: | 射频 集成电路 芯片 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种射频集成电路芯片的形成方法,其特征在于,包括:提供绝缘体上半导体结构,所述绝缘体上半导体结构从下到上依次包括基底、埋氧化层和半导体衬底,所述半导体衬底中具有浅沟槽隔离结构;蚀刻所述浅沟槽隔离结构及其下方的埋氧化层直至形成通孔,所述通孔暴露所述基底表面;沿所述通孔采用各向同性刻蚀方法蚀刻所述基底直至在所述基底形成沟槽,所述沟槽的横截面积大于通孔的横截面积,沟槽的深度等于沟槽从通孔向外拓张的宽度;沉积填充层填充所述沟槽和所述通孔;在所述半导体衬底、所述浅沟槽隔离结构和所述填充层上形成介质层;在所述介质层上形成射频器件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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