[发明专利]一种氧化物薄膜、含有该薄膜的晶体管及其制备方法有效
申请号: | 201410031240.8 | 申请日: | 2014-01-22 |
公开(公告)号: | CN103762227A | 公开(公告)日: | 2014-04-30 |
发明(设计)人: | 康晋锋;贡献;喻韵璇;刘冬;刘晓彦;韩德栋 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L29/10 | 分类号: | H01L29/10;H01L29/24;H01L29/786;H01L21/34 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王文君 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于半导体器件领域,提供一种氧化物薄膜,其为Ba-Zn-Sn-O氧化物薄膜,氧化物中各元素的摩尔比为Ba:Zn:Sn=0.4~0.6:1.8~2.2:2。本发明还提供含有所述氧化物薄膜的晶体管及其制备方法。采用基于Ba-Zn-Sn-O的氧化物薄膜沟道层,可以增强氧化物薄膜沟道层对于载流子形成的控制能力,提高开关比,显著增加迁移率,优化亚阈值斜率,在保证薄膜晶体管的可靠性和电学特性基础上,使得薄膜晶体管的氧化物薄膜沟道层有更广泛的材料选择范围。 | ||
搜索关键词: | 一种 氧化物 薄膜 含有 晶体管 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种氧化物薄膜,其特征在于,为Ba‑Zn‑Sn‑O氧化物薄膜,氧化物中各元素的摩尔比为Ba:Zn:Sn=0.4~0.6:1.8~2.2:2。
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