[发明专利]高空间分辨率子孔径拼接方法无效
申请号: | 201410032247.1 | 申请日: | 2014-01-23 |
公开(公告)号: | CN103791854A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
发明(设计)人: | 杨飞;安其昌;赵宏超;苏燕芹;郭鹏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 陶尊新 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 高空间分辨率子孔径拼接方法,涉及超高空间分辨率子孔径拼接方法,解决现有技术存在的问题,将干涉仪与高精度六维运动台固定,利用补偿镜头将干涉仪发出的平面波变为待测表面对应的波形;驱动Stewart平台带动小孔径角的镜头围绕待测表面的零像差点进行转动,获得待测表面的子孔径位置以及波像差数据;对子孔径位置及波前数据进行分析,实现待测表面的子孔径拼接;通过获得的子孔径的波前拟合待测表面整体波前的Zernike系数,实现去除子孔径的低阶像差;利用周期图法从子孔径得到整体待测表面的功率谱,并利用功率谱得到镜面的斜率均方根。本发明突破现有CCD成像单元的限制,得到大口径光学表面的超高分辨率面形检测结果。 | ||
搜索关键词: | 空间 分辨率 孔径 拼接 方法 | ||
【主权项】:
1.高空间分辨率子孔径拼接方法,其特征是,该方法由以下步骤实现:步骤一、将干涉仪与高精度六维运动台固定,利用补偿镜头将干涉仪发出的平面波变为待测表面对应的波形;步骤二、驱动Stewart平台带动小孔径角的镜头围绕待测表面的零像差点进行转动,获得待测表面的子孔径位置以及波像差数据;步骤三、对步骤二获得的子孔径位置及波前数据进行分析,通过获得的子孔径的波前拟合待测表面整体波前的Zernike系数,去除子孔径的低阶像差;利用周期图法从子孔径得到整体待测表面的功率谱,并利用功率谱得到镜面的斜率均方根;实现待测表面的子孔径拼接;具体过程为:利用二维功率谱及功率谱频域平均半径,将二维功率谱坍陷为一维形式:ρ ‾ i = 1 N i Σ N i - 1 N i ρ l ]]>PSD 1 D = 1 N Σ N i - 1 N i PSD 2 D ( ρ l ) ]]> 式中,ρl为功率谱计算半径;根据标准正弦多项式Φ=Asin(2πfx),式中,A为一阶谐波系数,Φ为子孔径的波前,根据
获得
将f作为系统的截止频率。
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