[发明专利]硫族元素超饱和掺杂硅红外探测器及其制作方法有效
申请号: | 201410035355.4 | 申请日: | 2014-01-24 |
公开(公告)号: | CN103762255A | 公开(公告)日: | 2014-04-30 |
发明(设计)人: | 王科范;彭成晓;刘孔;谷城;曲胜春;王占国 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L31/0236 | 分类号: | H01L31/0236;H01L31/0288;H01L31/0224;H01L31/0352;H01L31/09;H01L31/18 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种硫族元素超饱和掺杂硅红外探测器及其制造方法,探测器包括p型掺杂硅单晶衬底,金字塔减反射结构分别形成于p型掺杂硅单晶衬底的上、下表面,硫族元素超饱和掺杂硅晶态薄膜形成于p型掺杂硅单晶衬底的上表面的金字塔减反射结构的表面;硅氧化物介质钝化层形成于硫族元素超饱和掺杂硅晶态薄膜的表面;正面接触栅电极形成在硅氧化物介质钝化层的表面;背面接触电极形成在p型掺杂硅单晶衬底的下表面的金字塔减反射结构的表面。本发明在硫族元素超饱和掺杂硅晶态薄膜的制备过程加入了表面减反射结构,这可以增强它的红外吸收。 | ||
搜索关键词: | 元素 饱和 掺杂 红外探测器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种硫族元素超饱和掺杂硅红外探测器,其特征在于,包括p型掺杂硅单晶衬底、金字塔减反射结构、硫族元素超饱和掺杂硅晶态薄膜、硅氧化物介质钝化层、正面接触栅电极和背面接触电极,其中,所述金字塔减反射结构分别形成于所述p型掺杂硅单晶衬底的上、下表面,金字塔减反射结构是指硅(100)取向单晶衬底在刻蚀液中,由于对硅各晶向的刻蚀速率不同而在衬底表面形成的金字塔形的结构;所述硫族元素超饱和掺杂硅晶态薄膜形成于所述p型掺杂硅单晶衬底的上表面的金字塔减反射结构的表面;所述硅氧化物介质钝化层形成于硫族元素超饱和掺杂硅晶态薄膜的表面;所述正面接触栅电极形成在所述硅氧化物介质钝化层的表面;所述背面接触电极形成在所述p型掺杂硅单晶衬底的下表面的金字塔减反射结构的表面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的