[发明专利]一种带钢表面缺陷的特征提取与分类方法有效
申请号: | 201410038260.8 | 申请日: | 2014-01-23 |
公开(公告)号: | CN103745234B | 公开(公告)日: | 2017-01-25 |
发明(设计)人: | 王安娜;储茂祥;巩容芬 | 申请(专利权)人: | 东北大学 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62;G06K9/46 |
代理公司: | 沈阳东大知识产权代理有限公司21109 | 代理人: | 梁焱 |
地址: | 110819 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 一种带钢表面缺陷的特征提取与分类方法,属于模式识别与图像处理领域。提取带钢表面缺陷样本数据库的基准采样尺寸表;获得基准采样图像,构造梯度大小‑方向共生矩阵;针对基准采样图像的缺陷内区域,构造灰度大小‑方向共生矩阵;生成特征向量样本的训练库;用K‑最近邻和R‑最近邻相结合的方法,修剪训练样本集并提取倍数因子;并利用修剪后样本的倍数因子改进分类器;获得多类别分类器模型;根据基准采样尺寸表,将缺陷测试样本转为基准采样图像,然后提取25维的特征量,并输入到多类别分类器模型,完成缺陷的自动识别。本发明能够实现尺度和旋转不变,抑制其它不利因素的影响,提高识别的效率与精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 带钢 表面 缺陷 特征 提取 分类 方法 | ||
【主权项】:
一种带钢表面缺陷的特征提取与分类方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1:提取带钢表面缺陷样本数据库的基准采样尺寸表;步骤2:计算缺陷样本数据库中样本图像的高度‑宽度比,并检索基准采样尺寸表,然后按照检索到的尺寸对缺陷图像进行采样,获得基准采样图像;步骤3:针对基准采样图像的缺陷边缘,构造梯度大小‑方向共生矩阵,并根据此矩阵提取9个梯度大小‑方向共生矩阵的特征,即大小均值、方向均值、大小方差、方向方差、大小熵、方向熵、混合熵、惯性矩、相关性,使提取到的特征具有尺度不变性和旋转不变性;所述的提取9个梯度大小‑方向共生矩阵特征的步骤如下:步骤3‑1:假设基准采样图像中缺陷边缘有nL个像素点,每一个像素点的灰度值为fiL,以fiL像素点为中心,提取3×3窗口中属于缺陷边缘的像素点,组成集合PiL,该集合中像素点的个数为且有这里L符号代表缺陷边缘,i=1,2,…,nL;步骤3‑2:计算PiL中每一个像素点梯度的大小(GM)i(k0,l0)和方向(GO)i(k0,l0),并定义PiL中所有像素点相对于3×3窗口中心点的坐标偏移量集合为WiL,这里k0和l0表示WiL中的坐标偏移量,G符号代表梯度,M符号代表大小,O符号代表方向;步骤3‑3:缺陷边缘的每一个像素点的梯度大小被定义为PiL中所有像素点梯度大小的均值,其公式如下:(GM)iL=1miLΣk0,l0∈WiL(GM)i(k0,l0)]]>步骤3‑4:为保证旋转不变性,将fiL像素点的梯度方向旋转到0方向,对应的PiL中所有像素点的梯度方向也随之旋转,最终,缺陷边缘的每一个像素点的梯度方向被定义为PiL中所有像素点旋转后的梯度方向均值,假设MOD符号表示取余运算,则的公式如下:(GO)iL=1miLΣk0,l0∈WiLMOD((GO)i(k0,l0)-(GO)i(0,0)+2π,2π)]]>步骤3‑5:将和的值域进行32等级离散化,且离散化后缺陷边缘像素点的梯度大小和方向在离散域[1,2,…,32]中取值,这里i1,i2=1,2,…,nL,M32符号代表32等级离散化后的大小,O32符号代表32等级离散化后的方向;步骤3‑6:针对缺陷边缘,统计梯度大小为和梯度方向为的缺陷边缘像素点的个数,并将梯度大小‑方向共生矩阵HL中k1行l1列的元素HL(k1,l1)设定为此值,构造出32×32梯度大小‑方向共生矩阵HL;步骤3‑7:将梯度大小‑方向共生矩阵HL的元素转为概率形式,即HL在(k1,l1)元素的概率为p(k1,l1),其公式如下:p(k1,l1)=HL(k1,l1)/Σk1=132Σl1=132HL(k1,l1)]]>步骤3‑8:根据缺陷边缘的梯度大小‑方向共生矩阵HL,计算对应的具有尺度、旋转不变性的9个梯度大小‑方向共生矩阵的特征,即:大小均值μM、方向均值μO、大小方差方向方差大小熵EM、方向熵EO、混合熵EMO、惯性矩IMO、相关性CMO,具体公式如下:μM=Σk1=132(k1×Σl1=132p(k1,l1))]]>μO=Σl1=132(l1×Σk1=132p(k1,l1))]]>δM2=Σk1=132((k1-μM)2×Σl1=132p(k1,l1))]]>δO2=Σl1=132((l1-μO)2×Σk1=132p(k1,l1))]]>EM=-Σk1=132(Σl1=132p(k1,l1)×log(Σl1=132p(k1,l1)))]]>EO=-Σl1=132(Σk1=132p(k1,l1)×log(Σk1=132p(k1,l1)))]]>EMO=-Σk1=132Σl1=132(p(k1,l1)×log(p(k1,l1)))]]>IMO=Σk1=132Σl1=132((k1-l1)2×p(k1,l1))]]>CMO=Σk1=132Σl1=132((k1-μM)×(l1-μO)×p(k1,l1))δM2×δO2;]]>步骤4:针对基准采样图像的缺陷内区域,构造灰度大小‑方向共生矩阵,并根据此矩阵提取9个灰度大小‑方向共生矩阵的特征,使这些特征具有尺度不变性和旋转不变性;所述的提取9个灰度大小‑方向共生矩阵特征的步骤如下:步骤4‑1:假设基准采样图像中缺陷内区域有nΩ个像素点,每一个像素点灰度值为ftΩ,以ftΩ像素点为中心,提取3×3窗口中所有的像素点,组成集合PtΩ,这里Ω符号代表缺陷内区域,t=1,2,…,nΩ;步骤4‑2:计算PtΩ中像素点梯度的方向(GO)t(k2,l2),这里k2和l2表示PtΩ中像素点相对于3×3窗口中心点的坐标偏移量,且k2,l2∈{‑1,0,1};步骤4‑3:为保证旋转不变性,将ftΩ像素点的梯度方向旋转到0方向,对应的PtΩ中所有像素点的梯度方向也随之旋转,最终,缺陷内区域的每一个像素点的灰度方向被定义为PtΩ中所有像素点旋转后的梯度方向均值,其公式如下:(fO)tΩ=19Σk2,l2=-1,0,1MOD((GO)t(k2,l2)-(GO)t(0,0)+2π,2π)]]>步骤4‑4:将ftΩ和的值域进行32等级离散化,且离散化后缺陷内区域的灰度大小和方向在离散域[1,2,…,32]中取值,这里t1,t2=1,2,…,nΩ;步骤4‑5:针对缺陷内区域,统计灰度大小为和灰度方向为的缺陷内区域像素点的个数,并将灰度大小‑方向共生矩阵(k3,l3)位置的元素HΩ(k3,l3)设定为此值,构造出32×32灰度大小‑方向共生矩阵HΩ;步骤4‑6:将灰度大小‑方向共生矩阵HΩ的元素转为概率形式,即HΩ在(k3,l3)的概率为p(k3,l3),其公式如下:p(k3,l3)=HΩ(k3,l3)/Σk3=132Σl3=132HΩ(k3,l3)]]>步骤4‑7:根据缺陷内区域的灰度大小‑方向共生矩阵HΩ,计算对应的具有尺度、旋转不变性的9个灰度大小‑方向共生矩阵的特征,即:大小均值、方向均值、大小方差、方向方差、大小熵、方向熵、混合熵、惯性矩、相关性;步骤5:将缺陷边缘的9个梯度大小‑方向共生矩阵的特征量、缺陷内区域的9个灰度大小‑方向共生矩阵的特征量和缺陷图像的7个HU不变矩算法的特征量结合,生成具有25维特征向量样本的训练库;步骤6:针对具有25维特征向量样本的训练库,使用K‑最近邻和R‑最近邻相结合的方法,修剪训练样本集,同时,提取修剪后样本的倍数因子;步骤7:采用最小二乘孪生支持向量机作为分类器,并利用修剪后样本的倍数因子改进分类器;步骤8:将改进的分类器与二叉树结合,建立多类别分类器模型,并利用修剪后的训练样本集对多类别分类器模型进行训练;步骤9:根据基准采样尺寸表,将缺陷测试样本转为基准采样图像,然后提取25维的特征量,并输入到多类别分类器模型,完成缺陷的自动识别。
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