[发明专利]原子荧光光谱法测定纯银中的痕量硒、碲的方法

摘要

本发明提供一种利用原子荧光光谱法测定纯银中的痕量硒、碲的方法，选用硫脲溶液掩蔽测定体系中的残银，而不使用硫脲-抗坏血酸溶液，再使用氢化物发生-原子荧光光谱法测定银中的痕量硒、碲，结果准确可靠，使用本发明不仅能够有效掩蔽干扰离子Zn、Fe、Co、Ni、Cd、Sb、Te、Sn及其组合的影响，而且还能消除银基体本身对硒、碲测量的影响，使铋和硒的测量结果更精确；测定时间短、精度高、检出限低、线性范围宽、能同时、快速测定待测元素，分析范围能达到0.00005%~0.0001%，测定相对偏差在4.1%~17.3%，回收率在98.6%~102.1%；节能、环保、所需试剂少，成本低，对检测人员伤害小，适合大批量样品的分析，具有很好的经济效益和工业应用价值，对指导实际生产具有重要的推广价值。

主权项

一种利用原子荧光光谱法测定纯银中的痕量硒、碲的方法，其特征在于：所述方法包括：配置纯银细屑样品的溶液，配置标准硒溶液和标准碲溶液，用标准硒溶液和标准碲溶液配置工作曲线溶液；用原子荧光光度计测定工作曲线溶液中硒和碲的原子荧光强度，以硒和碲的质量浓度为横坐标，以硒和碲的荧光强度为纵坐标，绘制工作曲线；用原子荧光光度计测定样品溶液的原子荧光强度，用样品溶液中硒和碲的荧光强度在相应的工作曲线上查出相应元素硒和碲的质量浓度；计算试样中元素硒和碲的质量百分数，所述溶液配置后至少放置30分钟。