[发明专利]一种入光效率测量装置及入光效率测量方法有效
| 申请号： | 201410041828.1 | 申请日： | 2014-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN103792002A | 公开（公告）日： | 2014-05-14 |
| 发明（设计）人： | 颜凯;柏玲;鹿堃;布占场 | 申请（专利权）人： | 北京京东方显示技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01J1/08;G01J1/10 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 彭瑞欣;陈源 |
| 地址： | 100176 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种入光效率测量装置，包括具有可调狭缝单元的模拟光源，通过调节可调狭缝单元来模拟不同LED封装；可调狭缝单元一侧设置有用于承载导光板的平台；还包括位于平台上方的光亮度测量仪，光亮度测量仪用于测量导光板上某一固定点的亮度数值。通过将两次测量的亮度数值对比，得到入光效率之比。从而实现对不同LED封装对应不同厚度导光板的入光效率的定量测量评估。本发明还公开了一种入光效率测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 效率 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种入光效率测量装置，其特征在于，包括：模拟光源，所述模拟光源一侧具有可调狭缝单元，所述模拟光源发出的均匀光线穿过可调狭缝单元传输给导光板；位于所述可调狭缝单元一侧、用于承载导光板的平台；位于所述平台上方的光亮度测量仪，所述光亮度测量仪用于测量所述导光板上某一固定点的光亮度数值。
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