[发明专利]多介质结构测量方法及装置在审
| 申请号： | 201410042002.7 | 申请日： | 2014-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN103792585A | 公开（公告）日： | 2014-05-14 |
| 发明（设计）人： | 赵俊峰;童碧;孟庆彪;汪国胜;郑晓亮;胡业林;周伟东 | 申请（专利权）人： | 淮南矿业（集团）有限责任公司;安徽理工大学 |
| 主分类号： | G01V3/12 | 分类号： | G01V3/12 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 232001 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种多介质结构测量方法及装置，包括：获取发射端发送的N组电磁波的N组发射场强H0，并获取接收端接收的N组电磁波的N组接收场强HN/2，其中，N≧4，根据设定的介质结构数学模型，以及N组发射场强H0和N组接收场强HN/2，确定N/2组衰减系数βk以及走时路径rk，其中，k=1,2……N/2。从而提高了电磁波走时层析成像技术在重建图像反演过程中的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 介质 结构 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
一种多介质结构测量方法，其特征在于，包括：获取发射端发送的N组电磁波的N组发射场强H0，并获取接收端接收的所述N组电磁波的N组接收场强HN/2，其中，N≧4；根据设定的介质结构数学模型，以及所述N组发射场强H0和所述N组接收场强HN/2，确定N/2组衰减系数βk以及走时路径rk，其中，k=1,2……N/2。
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