[发明专利]封装单元有效

专利信息
申请号: 201410043307.X 申请日: 2012-09-24
公开(公告)号: CN103787001A 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 安永圭;朴祥秀;朴珉哲;郑世火 申请(专利权)人: 三星电机株式会社
主分类号: B65D85/86 分类号: B65D85/86
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 李雪;黄志兴
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及一种封装单元,该封装单元包括:片式层压电子元件,该片式层压电子元件包括:外电极,该外电极形成在陶瓷本体的两个端部上;工作层,在该工作层中,位于所述陶瓷本体内的多个内电极与所述外电极电连接,并且所述内电极之间布置有电介质层;上覆盖层,该上覆盖层沿所述陶瓷本体的厚度方向形成在所述工作层上;以及下覆盖层,该下覆盖层沿所述陶瓷本体的厚度方向形成在所述工作层的下方;封装片,该封装片包括用于容纳所述片式层压电子元件的容纳部,其中,所述内电极布置成基于所述容纳部的下表面水平定位,并且所述片式层压电子元件的下覆盖层邻近于所述容纳部的下表面。
搜索关键词: 封装 单元
【主权项】:
一种封装单元,该封装单元包括:片式层压电子元件,该片式层压电子元件包括:外电极,该外电极形成在陶瓷本体的两个端部上;工作层,在该工作层中,位于所述陶瓷本体内的多个内电极与所述外电极电连接,并且所述内电极之间布置有电介质层;上覆盖层,该上覆盖层沿所述陶瓷本体的厚度方向形成在所述工作层上;以及下覆盖层,该下覆盖层沿所述陶瓷本体的厚度方向形成在所述工作层的下方;其中,当所述陶瓷本体的总厚度的一半定义为A、所述下覆盖层的厚度定义为B以及所述工作层的总厚度的一半定义为C时,所述工作层的中心部偏离所述陶瓷本体的中心部的比值(B+C)/A满足1.063≤(B+C)/A≤1.745的范围,封装片,该封装片包括用于容纳所述片式层压电子元件的容纳部,其中,所述内电极布置成基于所述容纳部的下表面水平定位,并且所述片式层压电子元件的下覆盖层邻近于所述容纳部的下表面。
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