[发明专利]适应性刷新装置与方法有效

专利信息
申请号: 201410043634.5 申请日: 2014-01-29
公开(公告)号: CN104810051B 公开(公告)日: 2018-10-26
发明(设计)人: 林宏学 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: G11C16/06 分类号: G11C16/06
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 汤在彦
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种适应性刷新装置与方法,适用于快闪存储器阵列,其中快闪存储器阵列包括第一阵列区域,第一监测行位于第一阵列区域存储器阵列的一侧,第一阵列区域包括选择区块以及第一非选择区块,第一监测行具有预先写入第一逻辑位准的多个第一监测单元,该适应性刷新装置包括:检测单元、控制单元以及刷新单元。检测单元检测第一监测单元之一者是否由第一逻辑位准转换为第二逻辑位准。当检测单元发现第一监测单元之一者为第二逻辑位准时,控制单元设定第一刷新标签。刷新单元根据第一刷新标签,将为第二逻辑位准的第一监测单元写入第一逻辑位准并刷新第一非选择区块,且于刷新完成后清除第一刷新标签。本发明相较于现有技术,可减少部分抹除所需的时间。
搜索关键词: 适应性 刷新 装置 方法
【主权项】:
1.一种适应性刷新装置,适用于一快闪存储器阵列,其特征在于,上述快闪存储器阵列包括一第一阵列区域,一第一监测行位于上述第一阵列区域的一侧,上述第一阵列区域包括一选择区块以及多个第一非选择区块,其中上述选择区块代表执行抹除动作的区块,上述第一非选择区块代表不执行抹除动作的区块,上述第一监测行具有多个第一监测单元,其中上述第一监测单元预先写入一第一逻辑位准,用以监测上述第一非选择区块所受抹除干扰的情形,所述适应性刷新装置包括:一检测单元,检测上述第一监测单元之一者是否由上述第一逻辑位准转换为一第二逻辑位准;一控制单元,当上述检测单元发现上述第一监测单元之一者为上述第二逻辑位准时,设定一第一刷新标签;以及一刷新单元,根据上述第一刷新标签,将为上述第二逻辑位准的上述第一监测单元写入上述第一逻辑位准并刷新上述第一非选择区块,且于刷新完成后清除上述第一刷新标签。
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