[发明专利]一种用于探索高效率光阴极材料的光发射阴极测试系统无效
| 申请号： | 201410048153.3 | 申请日： | 2014-02-12 |
| 公开（公告）号： | CN103852479A | 公开（公告）日： | 2014-06-11 |
| 发明（设计）人： | 曹高龙;马超;田焕芳;张明;孙帅帅;李建奇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22 |
| 代理公司： | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人： | 王艺 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于探索高效率光阴极材料的光发射阴极测试系统，包括光发射电子枪、电子加速装置、高真空腔体、探测器、激光器和真空设备；所述光发射电子枪包含光发射阴极，用于被所述激光器产生的激光辐射后，所述光发射阴级被激发出光电子；所述电子加速装置用于对所述光电子进行加速；所述光发射电子枪和电子加速装置置于所述高真空腔体内；所述真空设备用于使所述高真空腔体保持高真空度；所述探测器用于接收并分析发射出的光电子的亮度、单色性、相干性等特性。本发明能细致地评估光发射阴极的性能参数，从而为提高阴极的光发射性能，改善光阴极的使用寿命，寻找性能优异的光发射材料提供依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 探索 高效率 阴极 材料 发射 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种用于探索高效率光阴极材料的光发射阴极测试系统，其特征在于，包括光发射电子枪、电子加速装置、高真空腔体、探测器、激光器和真空设备；所述光发射电子枪包含光发射阴极，用于被所述激光器产生的激光辐射后，所述光发射阴级被激发出光电子；所述电子加速装置用于对所述光电子进行加速；所述光发射电子枪和电子加速装置置于所述高真空腔体内；所述真空设备用于使所述高真空腔体保持高真空度；所述探测器用于接收并分析发射出的光电子的亮度、单色性、相干性等特性。
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