[发明专利]天线测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201410049239.8 申请日: 2014-02-12
公开(公告)号: CN104833869A 公开(公告)日: 2015-08-12
发明(设计)人: 钱宪 申请(专利权)人: 富泰华工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R27/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市宝安区观澜街道大三社*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种天线的测试装置,其包括一耦合天线及一网络分析仪,其中该网络分析仪通过一数据线与该耦合天线连接。该耦合天线用于在测试过程中,接收该网络分析仪上产生的入射波,在该入射波的作用下该耦合天线与待测天线发生感应作用,影响该耦合天线的辐射阻抗,从而影响该耦合天线的反射波。该网络分析仪根据入射波与耦合天线反馈的反射波获得一驻波比。本发明还揭露了一种利用该天线测试装置测试天线性能的方法。本发明提供的天线的测试装置及方法由于无需将天线与测试仪器网络分析仪(VNA)进行物理连接,从而大大减小了天线损坏的可能性,另外对于设置于产品内的天线出现异常需要异常,也不需要拆开产品,大大节省了成本。
搜索关键词: 天线 测试 装置 方法
【主权项】:
一种天线测试装置,该天线测试装置包括一网络分析仪,其特征在于,所述天线测试装置还包括一耦合天线,该耦合天线与所述网络分析仪通过一数据线连接;所述网络分析仪用于产生一入射波;所述耦合天线接收所述入射波并与待测天线发生感应作用,并反馈一反射波于所述网络分析仪中;所述网络分析仪根据所述入射波与所述反射波得到一驻波比,若该驻波比在一上限参考驻波比及一下限参考驻波比的范围内,则该待测天线合格。
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