[发明专利]基于非晶化工艺及热处理在凹部中形成有内埋式应变诱发性材料的晶体管有效
申请号: | 201410050281.1 | 申请日: | 2014-02-13 |
公开(公告)号: | CN104051269B | 公开(公告)日: | 2017-12-08 |
发明(设计)人: | N·萨赛特;C·格拉斯;J·亨治尔;R·严;R·里克特 | 申请(专利权)人: | 格罗方德半导体公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/28;H01L21/8238;H01L29/423;H01L27/092 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司11314 | 代理人: | 程伟,王锦阳 |
地址: | 英属开曼群*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于非晶化工艺及热处理在凹部中形成有内埋式应变诱发性材料的晶体管,其为了并入应变诱发性半导体材料而在半导体装置的主动区中形成凹部时,凹部可利用非晶化工艺及热处理得到改良型形状,以便选择性地修改主动区曝露部分的蚀刻行为,并且调整非晶区的形状。如此,凹部的基本配置可经过调整而具有高度弹性。因此,可改良应变诱发性技术的功效。 | ||
搜索关键词: | 基于 化工 热处理 凹部中 形成 有内埋式 应变 诱发 材料 晶体管 | ||
【主权项】:
一种形成晶体管的方法,其包含:在包含有结晶半导体基材的主动区上方形成晶体管的栅极电极结构;在邻近于该栅极电极结构的该主动区中形成非晶区;进行热处理以致所述非晶区部分再结晶化,以形成改进型非晶区;在该热处理后,蚀刻对该结晶半导体基材具有选择性的所述改进型非晶区,其中,移除该改进型非晶区的非晶材料以在该主动区中形成凹部;以及在所述凹部中形成应变诱发性半导体材料以诱发该晶体管信道区中的应变力。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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