[发明专利]质谱法中操作滤质器的方法有效
申请号: | 201410050376.3 | 申请日: | 2014-02-13 |
公开(公告)号: | CN103996597B | 公开(公告)日: | 2017-03-01 |
发明(设计)人: | N·E·戴莫克;O·兰格;D·诺尔廷;J-P·哈奇尔德;A·库恩 | 申请(专利权)人: | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 |
主分类号: | H01J49/06 | 分类号: | H01J49/06 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 姬利永 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 公开一种质谱法中操作滤质器的方法,包括将离子从一个离子源传输穿过一个滤质器(例如,四极杆);在该滤质器下游的一个不连续的离子光学装置中处理从该滤质器接收的离子;在一个质荷比(m/z)过滤模式下操作该滤质器多个周期,以便将在一个或多个选择的m/z范围内的离子传输至该不连续的离子光学装置;并且在其中该不连续的离子光学装置不处理来自该滤质器的离子的一个或多个周期的过程中,在一个宽质量范围模式下操作该滤质器,该宽质量范围模式传输的离子的质量范围比在该m/z过滤模式下传输的任何质量范围实质上更宽。当在该宽质量范围模式下操作时,减少了该滤质器中的污染,例如,每当该不连续的离子光学装置不接受离子时,允许大部分离子传输穿过该过滤器并且因此不撞击该滤质器的表面并且不沉积在其上。 | ||
搜索关键词: | 质谱法中 操作 滤质器 方法 | ||
【主权项】:
一种质谱方法,包括:将离子从离子源传输穿过滤质器;提供一个用于处理从该滤质器接收的离子的、在该滤质器下游的、不连续的离子光学装置,其中所述处理包括不连续地传输离子;在质荷比m/z过滤模式下操作该滤质器多个周期,以将在一个或多个选择的m/z范围内的离子传输至该不连续的离子光学装置;并且在该不连续的离子光学装置下游的质量分析器中分析已经被该不连续的离子光学装置处理过的离子,用该不连续的离子光学装置处理离子的持续时间被在下游质量分析器中分析所述离子的持续时间超过,其中在其中该不连续的离子光学装置处理离子的周期之间限定多个空闲时间;以及在空闲时间期间,在宽质量范围模式下操作该滤质器,该宽质量范围模式传输的离子的质量范围比在该m/z过滤模式下传输的任何质量范围实质上更宽,与该滤质器在质荷比m/z过滤模式下操作的周期期间相比,在空闲时间期间,该滤质器的表面上的离子沉积减少。
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