[发明专利]一种语音控制的集成电路测试系统及方法无效

专利信息
申请号: 201410052417.2 申请日: 2014-02-16
公开(公告)号: CN103809108A 公开(公告)日: 2014-05-21
发明(设计)人: 徐正元 申请(专利权)人: 成都市中州半导体科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/00;G06F3/16
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 611731 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种语音控制的集成电路测试系统,包括音频信号采集器、音频分析处理器、通讯控制器及测试仪,所述音频信号采集器接受外部的语音信号,将语音信号进行采集及放大后输出至所述音频分析处理器,所述音频分析处理器将接收到的语音信号进行分析后输出至所述通讯控制器,所述通讯控制器将所述音频分析处理器传送过来的语音信号转变为所述测试仪支持的语音控制指令,使得所述测试仪执行所述通讯控制器产生的语音控制指令。本发明还公开了一种语音控制的集成电路测试方法。本发明通过语音远程对测试进行控制和监督,可以有效的提高生产效率,降低芯片测试及测试仪自身的成本,同时也能有效降低测试工人的视力疲劳问题。
搜索关键词: 一种 语音 控制 集成电路 测试 系统 方法
【主权项】:
一种语音控制的集成电路测试系统,其特征在于,包括音频信号采集器、音频分析处理器、通讯控制器及测试仪,所述音频信号采集器接受外部的语音信号,将语音信号进行采集及放大后输出至所述音频分析处理器,所述音频分析处理器将接收到的语音信号进行分析后输出至所述通讯控制器,所述通讯控制器将所述音频分析处理器传送过来的语音信号转变为所述测试仪支持的语音控制指令,使得所述测试仪执行所述通讯控制器产生的语音控制指令。 
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