[发明专利]光源以及光学测量系统有效
| 申请号： | 201410056556.2 | 申请日： | 2014-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN104849213B | 公开（公告）日： | 2017-12-29 |
| 发明（设计）人： | 潘宁宁;田志刚;张军晔 | 申请（专利权）人： | 赛默飞世尔(上海)仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/31 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人： | 姬利永 |
| 地址： | 201206 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请公开一种光源以及光学测量系统。该光源包括超高压汞灯；透射型氘灯，被配置成允许来自超高压汞灯的光透射通过透射型氘灯；以及光收集器，被配置成引导来自超高压汞灯的光透射通过透射型氘灯。 | ||
| 搜索关键词： | 光源 以及 光学 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种光源，包括：超高压汞灯；透射型氘灯，被配置成允许来自所述超高压汞灯的光透射通过所述透射型氘灯；以及光收集器，被配置成引导来自所述超高压汞灯的光透射通过所述透射型氘灯。
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