[发明专利]基于天线阵的多目标微位移测量方法有效

专利信息
申请号: 201410060204.4 申请日: 2014-02-21
公开(公告)号: CN103792531B 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 王韬;郑海升;沈亦豪;高瞻;徐建;覃大伟;杨力生;张潘;谢芝茂;谢晓姣 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01S13/08 分类号: G01S13/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 400044 重庆市沙坪坝区*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明公开了一种大型建筑物多目标微位移测量方法,属于建筑物变形监测技术领域。本方法在被测物体上安装P个无源角反射器,在远离被测物体处安装阵列雷达。天线阵辐射信号照射所有角反射器并接收混合回波信号,并行形成P个最优波束分离出每个角反射器的回波信号,每个波束在需要分离的角反射器回波信号方向上增益最大,接收信号功率最强;在其它P‑1个角反射器回波方向上形成零陷,将干扰降至最小。检测发射信号与恢复的各角反射器回波信号相位差,将相位差变化量转换为各角反射器的微位移量。本方法解决了多个角反射器回波信号很难分离的问题,实现了多目标微位移测量,抗干扰能力强,能够很好地应用于建筑物的微位移测量中。
搜索关键词: 基于 天线阵 多目标 位移 测量方法
【主权项】:
一种基于天线阵的多目标微位移测量方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤一:在被测物上安装多个角反射器;步骤二:在远离被测物处安装阵列雷达;步骤三:确定每个角反射器回波信号相对于天线阵的方位:根据角反射器安装位置坐标和天线阵各单元天线位置坐标及排列方式,确定每个角反射器回波信号相对于天线阵的方位;或者通过超分辨来波方向估计算法确定每个角反射器回波信号相对于天线阵的方位;步骤四:计算最优权矢量:在已知每个角反射器回波信号相对于天线阵方位的基础上,计算出多个最优权矢量,一个角反射器对应一个最优权矢量,对应一个最优波束;将需要恢复的角反射器回波信号作为期望信号,将其他所有角反射器回波信号作为干扰信号,每个角反射器所对应的最优权矢量形成的最优波束在期望方向上输出功率最大,在干扰方向上形成零陷;步骤五:恢复每个角反射器回波信号:阵列雷达照射所有角反射器,并接收混合回波信号,使用步骤四中计算的最优权矢量对应的最优波束恢复每个角反射器回波信号;步骤六:计算每个角反射器位移量:使用干涉相位测量技术计算出每个角反射器回波信号与雷达发射信号之间的相位差变化量,从而计算出每个角反射器的位移量。
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