[发明专利]一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪有效

专利信息
申请号: 201410060561.0 申请日: 2014-02-21
公开(公告)号: CN103868596A 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 相里斌;杜述松;才啟胜 申请(专利权)人: 中国科学院光电研究院
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01N21/45
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;赵镇勇
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪,其中,所述方法包括:复合光经分束器后一部分被反射得到反射光,另一部分被透射得到透射光;反射光经反射镜组以及闪耀光栅组后再次经分束器反射到达成像镜,透射光沿着与反射光相反的光路经反射镜组以及闪耀光栅组后到达成像镜,其中,闪耀光栅组包括平行设置的第一闪耀光栅和第二闪耀光栅,入射闪耀光栅组的复合光被衍射成多束相互平行的出射光,且多束出射光与入射光平行;成像镜上得到具有横向剪切量的干涉光,从而在探测器得到干涉信息。加入一对平行的闪耀光栅实现外差的特性,实现采样点数减少以及信噪比提高。
搜索关键词: 一种 孔径 空间 外差 干涉 光谱 成像 方法 光谱仪
【主权项】:
一种大孔径空间外差干涉光谱仪,其特征在于,包括分束器、反射镜组、闪耀光栅组,其中,所述闪耀光栅组包括平行设置的第一闪耀光栅和第二闪耀光栅,所述反射镜组包括成夹角设置的第一反射镜和第二反射镜:复合光经所述分束器后一部分被反射得到反射光,另一部分被透射得到透射光;所述反射光经所述反射镜组以及所述闪耀光栅组后再次经所述分束器反射到达成像镜,所述透射光沿着与所述反射光相反的光路经所述反射镜组以及所述闪耀光栅组后到达所述成像镜,其中,入射所述闪耀光栅组的复合光被衍射成多束相互平行的出射光,且多束所述出射光与所述入射光平行;所述成像镜上得到具有横向剪切量的干涉光,从而在探测器得到干涉信息。
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