[发明专利]一种分层式颗粒浓度测量装置及方法有效
申请号: | 201410061881.8 | 申请日: | 2014-02-24 |
公开(公告)号: | CN103852405B | 公开(公告)日: | 2016-11-16 |
发明(设计)人: | 金爽;钟俊峰;廖世迁 | 申请(专利权)人: | 深圳市芯通信息科技有限公司 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06 |
代理公司: | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人: | 张晓霞 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种分层式颗粒浓度测量装置及方法,所述装置包括进气通道,以及与该进气通道的下部出气口连通的上出气通道和下出气通道,上出气通道位于下出气通道的上方;上出气通道和下出气通道的侧部分别对应的设置有第一颗粒浓度测量装置和第二颗粒浓度测量装置,用于测量流经它们内部的空气中的颗粒浓度;其中,在上出气通道和/或下出气通道内设有用于帮助进气通道加速进气的装置。本发明实现了不同粒径颗粒的分离,能有效获取空气中不同粒径颗粒的浓度,并且响应速度快、成本低廉。 | ||
搜索关键词: | 一种 分层 颗粒 浓度 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种分层式颗粒浓度测量装置,其特征在于,包括进气通道,以及与该进气通道的下部出气口连通的上出气通道和下出气通道,所述上出气通道位于所述下出气通道的上方,进气通道和两高度不同的上出气通道、下出气通道,形成倒“F”型的结构;所述上出气通道和所述下出气通道的侧部分别对应的设置有第一颗粒浓度测量装置和第二颗粒浓度测量装置,用于测量流经它们内部的空气中的颗粒浓度;其中,在所述上出气通道和/或所述下出气通道内设有用于帮助所述进气通道加速进气的装置。
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