[发明专利]用于检测非球面的高精度位相型计算全息图的编码方法有效
申请号: | 201410062280.9 | 申请日: | 2014-02-24 |
公开(公告)号: | CN103791855A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
发明(设计)人: | 张洪鑫;燕宇;乔玉晶;司俊山;马薇 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨理工大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G03H1/08 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 张宏威 |
地址: | 150080 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 用于检测非球面的高精度位相型计算全息图的编码方法,涉及计算全息技术领域,消除了计算全息图在全息编码过程中产生的编码误差,阻断该误差从源头逐级传递和放大,提高计算全息图再现基准波面的精度。包括:对连续非球面数学模型进行抽样离散化,再以2π为模对其进行周期量化获得位相图,通过放大取整将其转换为灰阶图,生成位相型计算全息图;提取全息图每个量化周期的最小边界值,建立线性方程组,求最小边界值偏差和每个量化周期的调整系数;通过非球面量化周期边界的定义,提取每个量化周期数据;用最小边界值偏差和调整系数,调整对应量化周期数据;累加每个量化周期数据,生成校正后位相型计算全息图。本发明适用于计算全息法检测非球面。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 球面 高精度 位相 计算 全息图 编码 方法 | ||
【主权项】:
1.用于检测非球面的高精度位相型计算全息图的编码方法,其特征是:它由以下步骤实现:步骤一、根据被测旋转对称非球面的二次曲面偏心率e,确定旋转对称非球面的类型;然后根据公式:W ( x , y ) = cS 2 1 + 1 - ( L + 1 ) c 2 S 2 + A 1 S 4 + A 2 S 6 + · · · + A n S 2 n ]]> 生成被测旋转对称非球面模型W(x,y),单位为微米(um);式中:S2=x2+y2;(x,y)为被测旋转对称非球面上任意一点在底面投影的坐标;
R0为被测旋转对称非球面的顶点曲率半径;A1、A2、LAn为高次非球面各高次项系数;L=-e2;步骤二、对被测旋转对称非球面模型W(x,y)采用位相型计算全息编码;具体为:首先对被测旋转对称非球面模型W(x,y)进行抽样离散化处理,获得W(i,j);W ( i , j ) = [ W ( x , y ) · comb ( x N ) · comb ( y ) N · rect ( x D , y D ) ] ]]> 式中:i,j=1,2,3LN,N为采样数,D为被测旋转对称非球面的口径;然后以2π为模对W(i,j)进行周期量化,获得位相图,通过放大取整后,将位相图转换为灰阶图,灰阶分布范围为0-255,生成位相型计算全息图WCGH(i,j);W CGH ( i , j ) = round [ 255 · 1 λh · mod [ W ( i , j ) · h ] 2 π ] ( h = 2 π λ ) ]]> 式中:λ为波长,单位为微米(um);步骤三、提取步骤二获得的位相型计算全息图WCGH(i,j)上包含对称中心点的一维数组Bi,即:B1、B2……BN,从一维数组Bi中提取每个量化周期的最小边界值bk,建立线性方程组:zk=bk-b0并求解最小边界值偏差zk;式中:b0为期望值,k为量化周期数,k=1,2,3…C;C是最大量化周期数;步骤四、建立线性方程组:β k = a 0 a k - z k - b 0 ]]> 求取:每个量化周期的调整系数βk;式中:ak为各周期最大边界值,a0为期望值;步骤五、通过非球面量化周期的边界定义式:
提取位相型计算全息图WCGH(i,j)每个量化周期数据Wk(i,j);式中:λ为波长,单位为微米(um);步骤六、用一维数组调整系数βk通过公式:Rk(i,j)=(1+βk)[Wk(i,j)-zk(i,j)]调整对应量化周期数据Wk(i,j),得到调整后量化周期数据Rk(i,j);其中:最小边界值偏差矩阵zk(i,j)由一维数组zk构造:
再累加调整后每个量化周期数据:W CGH 1 ( i , j ) = round ( Σ k = 1 C R k ( i , j ) ) ]]> 生成校正后位相型计算全息图WCGH1(i,j);步骤七、判断步骤六生成的校正后位相型计算全息图WCGH1(i,j)的最小边界值偏差是否满足|zk|<zmin,zmin为最小边界值偏差期望值,如果判断结果为否,则返回执行步骤三;如果判断结果为是,则完成高精度位相型计算全息图的编码。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨理工大学,未经哈尔滨理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410062280.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。