[发明专利]一种去除X射线影像滤线栅条纹的方法及系统有效

专利信息
申请号: 201410062484.2 申请日: 2014-02-24
公开(公告)号: CN103886552B 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 孙凯;李学军;杜静;陈娴 申请(专利权)人: 深圳市安健科技股份有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T5/50
代理公司: 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)44312 代理人: 陈健
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及一种去除X射线影像滤线栅条纹的方法及系统。所述方法包括如下步骤:步骤S1:生成窗函数图像;步骤S2:将所述窗函数图像与所述原图像相乘,生成加窗图像;步骤S3:获取所述加窗图像的频谱;步骤S4:获取所述频谱图像的幅值图像,并对所述幅值图像进行二值化处理,获得二值图像;步骤S5:检测所述二值图像的最大连通区域,并将该最大连通区域中各像素值置零;步骤S6:将所述幅值图像与经所述步骤S5处理后的二值图像相乘,并检测相乘后的幅值图像的峰值,该峰值所在坐标位置即为滤线栅条纹的频率位置;步骤S7:根据所述滤线栅条纹的频率位置去除所述条纹。
搜索关键词: 一种 去除 射线 影像 滤线栅 条纹 方法 系统
【主权项】:
一种去除X射线影像滤线栅条纹的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1:生成窗函数图像;步骤S2:将所述窗函数图像与原图像相乘,生成加窗图像;步骤S3:获取所述加窗图像的频谱图像;步骤S4:获取所述频谱图像的幅值图像,并对所述幅值图像进行二值化处理,获得二值图像;步骤S5:检测所述二值图像的最大连通区域,并将该最大连通区域中各像素值置零;步骤S6:将所述幅值图像与经所述步骤S5处理后的二值图像相乘,并检测相乘后的幅值图像的峰值,该峰值所在坐标位置即为滤线栅条纹的频率位置;步骤S7:根据所述滤线栅条纹的频率位置去除所述条纹。
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