[发明专利]用于检测物体位置的测量方法和测量系统以及机器有效
申请号: | 201410063718.5 | 申请日: | 2014-02-25 |
公开(公告)号: | CN104000304B | 公开(公告)日: | 2017-12-26 |
发明(设计)人: | D.萨赫尔;H.加斯特 | 申请(专利权)人: | 虹霓机械制造有限公司 |
主分类号: | A24C5/34 | 分类号: | A24C5/34 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 宣力伟,杨国治 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于检测尤其胶囊状的物体(20)在烟草加工业的沿纵轴向输送的过滤嘴条(40)中的位置的测量方法,其特征在于,沿着至少三个相互独立地相对布置的光学轴线(18、18'、18'')在外套侧对所述过滤嘴条(40)进行透射,由此获得至少三个独立的测量信号,并且通过适当地结合所述测量信号求取所述物体(20)沿两个垂直于所述过滤嘴条(40)的方向的位置。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 物体 位置 测量方法 测量 系统 以及 机器 | ||
【主权项】:
用于检测物体(20)在烟草加工业的沿纵轴向输送的过滤嘴条(40)中的位置的测量方法,其特征在于,沿着至少三个相互独立地相对布置的光学轴线(18、18'、18'')在外套侧对所述过滤嘴条(40)进行透射,由此获得至少三个独立的测量信号,并且通过适当地结合所述测量信号求取所述物体(20)沿两个垂直于所述过滤嘴条(40)的方向的位置,所述测量方法是一种透射方法,其中分别测量穿过所述过滤嘴条(40)的光学射线穿过所述物体(20)所形成的阴影,每个光学轴线(18、18'、18'')都配备有带有光源(16、16'、16'')和感光的传感元件(17、17'、17'')的测量机构(15、15'、15''),所述光源和感光的传感器布置在所述过滤嘴条(40)的对置的侧面上,其中,自动并且连续地提供位置信号,所述位置信号包含关于所求取的位置的信息,其中,借助所述位置信号控制和/或调节用于将所述物体(20)嵌入到所述过滤嘴条(40)中的嵌入机构(42),并且其中,调整或者说调节所嵌入的物体(20)垂直于所述过滤嘴条(40)的过滤嘴条轴线的二维的位置,使得在过滤嘴条(40)中所述位置的借助测量装置所测量的实际值与所述位置的额定值一致。
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