[发明专利]OTN设备基于ODU0/1颗粒的电交叉容量测试系统及方法

摘要

本发明公开了一种OTN设备基于ODU0/1颗粒的电交叉容量测试系统及方法，涉及光传送网领域，该方法包括以下步骤：建立一个N×N矩阵；业务信号依次接入OTN设备的辅测框中支路接口盘的N个光接口，同时，系统将辅测框中第一线路接口盘线路侧光接口的光信号依次接入待测框中第二线路接口盘的线路侧对应光接口，系统按照N×N矩阵，将第二线路接口盘的背板侧电接口的M个ODU0/1颗粒分配到第三线路接口盘各线路侧光接口相应的背板侧电接口中；以相邻单盘为一组，依次遍历OTN设备所支持的所有槽位。本发明能有效提高测试效率，充分测试OTN设备支持ODU0/1等较小颗粒的电交叉容量。

主权项

一种OTN设备基于ODU0/1颗粒的电交叉容量测试系统，包括OTN设备的辅测框和待测框，辅测框包括交叉连接的支路接口盘和第一线路接口盘，待测框包括交叉连接的第二线路接口盘和第三线路接口盘，第二线路接口盘和第三线路接口盘均为待测单盘，其特征在于：所述支路接口盘的背板侧有至少4个ODU1颗粒电接口或至少8个ODU0颗粒电接口，第一线路接口盘的背板侧有M个电接口，第一线路接口盘的线路侧有N个光接口，M、N均为大于3的正整数，第二线路接口盘的线路侧有N个光接口，第二线路接口盘的背板侧有M个电接口，第三线路接口盘的背板侧有M个电接口，第三线路接口盘的线路侧有N个光接口；建立一个N×N矩阵，N×N矩阵中的行表示第三线路接口盘的线路侧光接口，列表示待测的第二线路接口盘的线路侧光接口，矩阵的元素用N×N(i，j)标识，i、j均为正整数，且1≤i≤N，1≤j≤N，N×N(i，j)表示待测的第二线路接口盘的第i个线路侧光接口的第N×N(i，j)个业务颗粒，分配到第三线路接口盘的第j个线路侧光接口对应的第N×N(i，j)个背板电接口；N×N(i，j)的取值为：i=j时，N×N(i，j)=1；i<j时，N×N(i，j)=j–i+1；i>j时，N×N(i，j)=j–i+M+1；业务信号依次接入OTN设备的辅测框中支路接口盘的N个光接口，同时，系统将辅测框中第一线路接口盘线路侧光接口的光信号依次接入待测框中第二线路接口盘的线路侧对应光接口，系统按照N×N矩阵，将第二线路接口盘的背板侧电接口的M个ODU0/1颗粒分配到第三线路接口盘各线路侧光接口相应的背板侧电接口中，第三线路接口盘的各线路侧光接口均环回连接，只有对应端口的业务才接通，以相邻单盘为一组，依次遍历OTN设备所支持的所有槽位。