[发明专利]基于FMEA中故障影响数据的电路板测试设计与相关性矩阵建立方法

摘要

本发明的基于FMEA中故障影响数据的电路板测试设计与相关性矩阵建立方法，用于故障诊断领域。本方法包括：由电路板的FMEA数据建立故障模式与影响关联表；由上层影响建立初始测试集和故障模式与初始测试的逻辑关联矩阵，并确定初始测试存在的不可检测故障和模糊组故障；由不可检测故障与模糊组故障的局部影响，建立检测增补测试集和隔离增补测试集，构建不可检测故障与检测增补测试的逻辑关联矩阵、模糊组故障与隔离增补测试的逻辑关联矩阵；合并整理得到电路板完整测试集和电路板故障模式与测试相关性矩阵，用于电路板测试与故障诊断。本发明保证了最高的故障检测率，又优先选取了易于测量的测试点，可方便、快捷地进行电路板故障诊断。

主权项

一种基于FMEA中故障影响数据的电路板测试设计与相关性矩阵建立方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：根据电路板的FMEA数据，建立故障模式与影响关联表；故障模式与影响关联表中包含故障模式、故障模式对电路板的局部影响和上层影响；步骤二：根据上层影响建立初始测试集，并构建故障模式与初始测试的逻辑关联矩阵；故障模式与初始测试的逻辑关联矩阵中，行为初始测试，列为故障模式，矩阵中元素ed_il表示第i个故障模式f_i与第l个初始测试ct_l之间的关系，当在故障模式与影响关联表中，故障f_i对应的上层影响包含ct_l时，ed_il为1；当故障f_i对应的上层影响不包含ct_l时，ed_il为0；步骤三：确定初始测试存在的不可检测故障和模糊组故障；从故障模式与初始测试的逻辑关联矩阵中，选取全零行对应的故障模式作为不可检测故障，将值相同的行对应的故障模式分组选取得到模糊组故障；步骤四：从故障模式与影响关联表中，提取步骤三得到的不可检测故障的局部影响，根据所提取的局部影响，建立对应的故障的检测增补测试，所有的检测增补测试形成检测增补测试集，然后构建不可检测故障与检测增补测试的逻辑关联矩阵；不可检测故障与检测增补测试的逻辑关联矩阵中，行为检测增补测试，列为不可检测故障；矩阵中元素ed′_mk表示第m个不可检测故障f′_m与第k个检测增补测试zt_k之间的关系，当在故障模式与影响关联表中，故障f′_m对应的局部影响包含zt_k时，ed′_mk为1；当故障f′_m对应的局部影响不包含zt_k时，ed′_mk为0；步骤五：从故障模式与影响关联表中，提取步骤三得到的模糊组故障的局部影响，当同一模糊组内的故障模式的局部影响不相同时，根据该模糊组故障局部影响建立隔离增补测试，所有隔离增补测试形成隔离增补测试集，然后构建模糊组故障与隔离增补测试的逻辑关联矩阵；模糊组故障与隔离增补测试的逻辑关联矩阵中，行为隔离增补测试，列为模糊组故障，矩阵中元素ed″_nr表示第n个模糊组故障f″_n与第r个隔离增补测试gt_r之间的关系，当在故障模式与影响关联表中，故障f″_n对应的局部影响包含gt_r时，ed″_nr为1；故障f″_n对应的局部影响不包含gt_r时，ed″_nr为0；步骤六：将初始测试集、检测增补测试集与隔离增补测试集进行汇总，得到电路板完整测试集；合并整理故障模式与初始测试的逻辑关联矩阵、不可检测故障与检测增补测试的逻辑关联矩阵、以及模糊组故障与隔离增补测试的逻辑关联矩阵，得到电路板的故障模式与测试相关性矩阵，在电路板的故障模式与测试相关性矩阵中，空余位置逻辑值设为X；步骤七：根据电路板的故障模式与测试相关性矩阵进行电路板测试与故障诊断。