[发明专利]一种DEH的点检仪系统及检测方法有效
| 申请号： | 201410069702.5 | 申请日： | 2014-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN103809588A | 公开（公告）日： | 2014-05-21 |
| 发明（设计）人： | 李颀;侯丽爱 | 申请（专利权）人： | 陕西科技大学 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02;G05B19/042 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 蔡和平 |
| 地址： | 710021 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种DEH的点检仪系统，包括控制MCU芯片、源MCU芯片、信号发生器、校准接口、D/A电路、A/D电路、AT组态、放大电路、上位机以及用于提供电能的电源，上位机与控制MCU芯片相连接，控制MCU芯片通过D/A电路、放大电路及校准接口与待测模块相连接，控制MCU芯片与源MCU芯片相连接，源MCU芯片通过信号发生器与待测模块相连接，待测模块通过控制MCU芯片与AT组态和上位机相连接；本发明还提供了一种DEH的检测方法。本发明可以有效的完成对DEH模块的各项性能进行检测，结构简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 deh 点检 系统 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种DEH的点检仪系统，其特征在于，包括控制MCU芯片(2)、源MCU芯片(6)、信号发生器(7)、校准接口(3)、D/A电路、A/D电路、AT组态(5)、放大电路、上位机(1)以及用于提供电能的电源，上位机(1)的输出端与控制MCU芯片(2)的输入端相连接，控制MCU芯片(2)的电压输出端及电流输出端依次经D/A电路、放大电路及校准接口(3)后分别与待测模块(4)的电压输入端及电流输入端相连接，待测模块(4)的电压输出端及电流输出端通过A/D电路分别与控制MCU芯片(2)的电压输入端及电流输入端相连接，控制MCU芯片(2)的电压输出端与电流输出端与AT组态(5)的输入端相连接，AT组态(5)的输出端与上位机(1)的输入端相连接，控制MCU芯片(2)的第一开关控制端与待测模块(4)的控制端相连接，控制MCU芯片(2)的第二开关控制端与源MCU芯片(6)的控制端相连接，源MCU芯片(6)的输出端与信号发生器(7)的控制端相连接，信号发生器(7)的输出端与待测模块(4)的信号输入端相连接，待测模块(4)的信号输出端与源MCU芯片(6)的信号输入端相连接，源MCU芯片(6)的数据输出端通过控制MCU芯片(2)与上位机(1)的输入端相连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陕西科技大学，未经陕西科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410069702.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种汽车门框上饰条衬条
- 下一篇：一种一对多自动检测AUV装置及实现方法
