[发明专利]一种基于宽场受激发射差分的显微方法和装置

摘要

本发明公开了一种基于宽场受激发射差分的显微方法，首先对样品进行宽场照明并成像，然后利用激光经两个渥拉斯顿棱镜形成两束垂直偏振光（s光）和两束平行偏振光（p光），这四束线偏光聚焦形成的干涉光斑对荧光样品进行照明并成像，然后同FED类似对宽场下得到的图像和干涉光斑下得到的图像进行差分处理，由于暗斑的大小小于衍射极限，所以能够得到暗斑中的超分辨图像，最后通过扫描振镜控制干涉光斑在样品上移动，以得到样品全部的显微图像。本发明还公开了本发明一种基于宽场受激发射差分的显微装置，结构简单，便于操作，能够实现基于宽场受激发射差分的快速超分辨显微成像，可用于光学显微成像领域。

主权项

一种基于宽场受激发射差分的显微方法，其特征在于，包括以下步骤：1）第一激光光束准直处理后，经物镜聚焦到荧光样品表面进行宽场照明，收集荧光样品发出的荧光，得到宽场照明下的第一样品图像；2）将第二激光光束分为四束线偏光后，经物镜聚焦到荧光样品表面并形成干涉光斑，所述干涉光斑中的亮斑部分对荧光样品进行照明并激发荧光，并采集荧光得到干涉光斑照明下的第二样品图像；其中，所述四束线偏光包括两组的平行偏振光和垂直偏振光；3）对步骤1）和步骤2）中的两幅样品图像进行差分处理，得到所述干涉光斑中暗斑部分的显微图像。