[发明专利]数字集成电路自动测试系统

摘要

本发明公开了一种数字集成电路自动测试系统，该系统由被测芯片、测试接口板、集成模块、测试模块、控制模块、显示模块及上位机组成；控制模块与上位机连接；测试模块与控制模块连接；被测芯片的管脚与测试接口板相连接；测试接口板与测试模块连接；集成模块连接测试模块、上位机；显示模块与控制模块连接，借助上位机软件显示最终比较后的波形，从而完成芯片功能和性能的自动测试。该系统成本低，在实验室条件下易于实现，且系统操作简便，开发速度快，可满足小批量产品测试需求；该系统通过自动测试，解决了手动测试中测试项目较多带来的操作复杂问题，提高了测试效率，避免手动测试时由于人为原因产生的误判，提高了测试质量。

主权项

一种数字集成电路自动测试系统，其特征在于，包括被测芯片、测试接口板、集成模块、测试模块、控制模块、显示模块及上位机，其中：控制模块与上位机连接，用于接收上位机发出的原始测试激励数据，生成并发送按照系统时钟节拍变化的测试激励数据；测试模块与控制模块连接，用于存储按照系统时钟节拍变化的测试激励数据和被测芯片在激励数据作用下输出的波形信号的预期值；被测芯片的管脚与测试接口板相连接，其中输入管脚接收按照系统时钟节拍发送的测试激励数据，输出管脚输出被测芯片在激励数据作用下的波形信号；测试接口板与测试模块连接，用于发送存储于测试模块中的测试激励数据；读取被测芯片在激励数据作用下的波形信号；并将所述波形信号与存储于测试模块中的被测芯片波形信号的预期值进行比较，比较后的波形通过控制模块传回上位机；集成模块连接测试模块、上位机，用于为上位机和测试模块输出直流电压、记录数据以及对系统参数进行校准；显示模块与控制模块连接，并借助上位机软件显示最终比较后的波形，从而完成芯片功能和性能的自动测试。