[发明专利]检查设备、方法和系统有效
| 申请号： | 201410075765.1 | 申请日： | 2014-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN104897703B | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 陈志强;张丽;杨戴天杙;黄清萍 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/10 | 分类号： | G01N23/10 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开了一种检查设备、方法和系统。该设备包括：分布式射线源，包括多个源点；光源准直器，设置在分布式射线源的射线出束端，将其产生的射线沿着扇形的径线汇聚，形成倒扇形射线束；散射准直器，配置为仅允许射线与被检查物体的相互作用产生的具有一个或多个特定散射角的散射射线通过；至少一个探测器，设置在散射准直器的下游，每个探测器包括多个探测单元，该多个探测单元具备能量分辨能力并且基本上设置在柱面上，以接收通过散射准直器的散射射线；以及处理装置，基于探测器输出的信号计算被检查物体的散射射线能谱信息。上述设备利用具有能量分辨能力的探测器，在固定角度下测量散射X射线的能量分布，获得物质晶格常数，从而分辨物质的种类。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 设备 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种检查设备，包括：分布式射线源，包括多个源点，各源点能够独立出束，也能够以相邻的几个源点为单位出束；光源准直器，设置在分布式射线源的射线出束端，将所述分布式射线源产生的射线沿着扇形的径线汇聚到汇聚点，形成倒扇形射线束；散射准直器，配置为仅允许射线与被检查物体的相互作用产生的具有一个或多个特定散射角的散射射线通过；至少一个探测器，设置在所述汇聚点的下游，每个探测器包括多个探测单元，所述多个探测单元具备能量分辨能力并且基本上设置在柱面上，以接收通过所述散射准直器的散射射线；以及处理装置，基于所述探测器输出的信号计算被检查物体的散射射线能谱信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学;同方威视技术股份有限公司，未经清华大学;同方威视技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410075765.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
