[发明专利]分光测定装置

摘要

本发明涉及分光测定装置。该分光测定装置具备波长可变干涉滤波器（5），可以变更选择的光的波长，使来自测定对象物X的光分光；摄像部（摄像元件（32）以及光量取得部（63）），分别接收由波长可变干涉滤波器5分光为多个波长的光而取得多个分光图像；位置偏移量检测部（位置对准点选择部（742）以及补正量检测部（743）），从由摄像部取得的多个分光图像中选择基准图像，在该基准图像与基准图像以外的至少一个分光图像之间，检测接收到来自测定对象物X的规定位置的光的像素位置的位置偏移量；以及位置补正部（744），根据检测出的位置偏移量，进行基准图像以外的分光图像的位置对准。

主权项

一种分光测定装置，其特征在于，具备：分光元件，能够变更选择的光的波长，使来自对象物的光分光；摄像部，分别接收由所述分光元件分光为多个波长的光而取得多个分光图像；位置偏移量检测部，从由所述摄像部取得的所述多个分光图像中选择基准图像，在所述基准图像与所述基准图像以外的至少一个所述分光图像之间，检测接收到来自所述对象物的规定位置的光的像素位置的位置偏移量；位置对准部，根据由所述位置偏移量检测部检测出的所述位置偏移量，进行所述基准图像以外的所述分光图像的位置对准；显示部，显示将分光图像合成后的参照图像；以及指定位置检测部，检测显示于所述显示部的所述参照图像中的由用户的输入操作指定的指定位置，所述摄像部取得包括所述指定位置的区域中的与多个波长各自对应的分光图像，所述位置偏移量检测部将参照图像生成用的分光图像以及所述参照图像中的至少任一个图像作为所述基准图像，检测所述基准图像与所述分光图像的所述位置偏移量，所述位置对准部根据检测出的所述位置偏移量，进行所述分光图像的位置对准。