[发明专利]LED光源阵列投影测试装置有效
| 申请号： | 201410077532.5 | 申请日： | 2014-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN103808496A | 公开（公告）日： | 2014-05-21 |
| 发明（设计）人： | 裴艳荣;杨华;刘立莉;李璟;王军喜;李晋闽 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 曹玲柱 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种LED光源阵列投影测试装置，该LED光源阵列投影测试装置包括：扩束元件，位于被测试LED光源阵列的光路后端；投影元件，位于扩束元件的光路后端；以及投影面，位于投影元件的光路后端；其中，被测试LED光源阵列发出的光束经由扩束元件进行扩束放大后，由投影元件投影至投影面，被测试LED阵列中的单颗LED光源与投影面上的位置具有对应关系。本发明LED光源阵列投影测试装置仅使用透镜和反射镜即可将光源点阵模块通过类似投影的方式呈现在任意平面上，目测即可快速找到故障点，装置结构简单，测试过程方便快捷、成本较低。 | ||
| 搜索关键词： | led 光源 阵列 投影 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种LED光源阵列投影测试装置，其特征在于，包括：扩束元件(310)，位于被测试LED光源阵列(210)的光路后端；投影元件(410)，位于所述扩束元件(310)的光路后端；以及投影面(500)，位于所述投影元件(410)的光路后端；其中，所述被测试LED光源阵列(210)发出的光束经由所述扩束元件(310)进行扩束放大后，由所述投影元件(410)投影至所述投影面(500)，所述被测试LED阵列(210)中的单颗LED光源与所述投影面上的确定位置具有对应关系，该确定位置的投影情况反映该单颗LED光源的工作状况。
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