[发明专利]一种石英晶体晶片的测试机在审

专利信息
申请号: 201410077568.3 申请日: 2014-03-05
公开(公告)号: CN103869186A 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 王斌;陆青林 申请(专利权)人: 随州泰华电子科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 441300 湖北省随州市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及到晶片领域,是一种石英晶体晶片的测试机。其特征是X轴水平轴安装平台装在Y轴左则导向轨道和Y轴右则导向轨道上,X轴左则导向轨道、X轴右则导向轨道、X轴伺复电机丝杆机构装在X轴水平轴安装平台上;Y轴伺复电机丝杆机构和Z轴竖直支撑台装在平台上,Z轴右侧导向轨道、Z轴左侧导向轨道装在Z轴竖直支撑台上。由于采用了本技术方案,机构简单可靠,对晶片上音叉单元测试点实现精确定位,可靠的完成晶片电气性能的测试,并进行统计分析,电脑显示画面上用不同颜色区分测试结果,形象直观,便于质量分析。
搜索关键词: 一种 石英 晶体 晶片 测试
【主权项】:
一种石英晶体晶片的测试机,其特征是X轴水平轴安装平台(1)装在Y轴左则导向轨道(2)和Y轴右则导向轨道(4)上,X轴左则导向轨道(6)、X轴右则导向轨道(7)、X轴伺复电机丝杆机构(8)装在X轴水平轴安装平台(1)上;Y轴伺复电机丝杆机构(3)和Z轴竖直支撑台(9)装在平台上,Z轴右侧导向轨道(10)、Z轴左侧导向轨道(11)装在Z轴竖直支撑台(9)上;右则测试探针位置调整机构(13)、左则测试探针位置调整机构(14)、左则测试探针(15)、右则测试探针(16)、工业摄像机(17)装在Z轴伺复电机丝杆机构(12)上。
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