[发明专利]一种石英晶体晶片的测试机在审
申请号: | 201410077568.3 | 申请日: | 2014-03-05 |
公开(公告)号: | CN103869186A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 王斌;陆青林 | 申请(专利权)人: | 随州泰华电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 441300 湖北省随州市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及到晶片领域,是一种石英晶体晶片的测试机。其特征是X轴水平轴安装平台装在Y轴左则导向轨道和Y轴右则导向轨道上,X轴左则导向轨道、X轴右则导向轨道、X轴伺复电机丝杆机构装在X轴水平轴安装平台上;Y轴伺复电机丝杆机构和Z轴竖直支撑台装在平台上,Z轴右侧导向轨道、Z轴左侧导向轨道装在Z轴竖直支撑台上。由于采用了本技术方案,机构简单可靠,对晶片上音叉单元测试点实现精确定位,可靠的完成晶片电气性能的测试,并进行统计分析,电脑显示画面上用不同颜色区分测试结果,形象直观,便于质量分析。 | ||
搜索关键词: | 一种 石英 晶体 晶片 测试 | ||
【主权项】:
一种石英晶体晶片的测试机,其特征是X轴水平轴安装平台(1)装在Y轴左则导向轨道(2)和Y轴右则导向轨道(4)上,X轴左则导向轨道(6)、X轴右则导向轨道(7)、X轴伺复电机丝杆机构(8)装在X轴水平轴安装平台(1)上;Y轴伺复电机丝杆机构(3)和Z轴竖直支撑台(9)装在平台上,Z轴右侧导向轨道(10)、Z轴左侧导向轨道(11)装在Z轴竖直支撑台(9)上;右则测试探针位置调整机构(13)、左则测试探针位置调整机构(14)、左则测试探针(15)、右则测试探针(16)、工业摄像机(17)装在Z轴伺复电机丝杆机构(12)上。
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