[发明专利]一种TGS准直器及其设计方法有效

专利信息
申请号: 201410077673.7 申请日: 2014-03-05
公开(公告)号: CN103902760B 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 郜强;甘霖;王仲奇;隋洪志 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;G21K1/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102413 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种TGS准直器及其设计方法,该方法包括以下步骤步骤S1,建立TGS系统与待测量对象的模型,所述待测量对象为桶装核材料或放射性废物;步骤S2,调节TGS准直器开口高度,利用蒙特卡罗模拟方法分别计算TGS准直器空间分辨率的两个评价指标的值;步骤S3,判断所述两个评价指标的值是否均在5%以内,若在则执行步骤S4,若不在则重复步骤S2;步骤S4,停止调节所述TGS准直器开口高度。本发明提供的TGS准直器的设计方法和由该方法设计出来的TGS准直器,比传统准直器有着更好的对称性,且其空间分辨率两个评价指标的值均在均在5%以内,能够保证获得体素内各个点更加均匀探测效率,有助于提高TGS空间分辨率和测量准确度。
搜索关键词: 一种 tgs 准直器 及其 设计 方法
【主权项】:
一种TGS准直器的设计方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤S1,建立TGS系统与待测量对象的模型,所述待测量对象为桶装核材料或放射性废物;步骤S2,调节TGS准直器开口高度,利用蒙特卡罗模拟方法分别计算TGS准直器空间分辨率的两个评价指标的值;步骤S3,判断所述两个评价指标的值是否均在5%以内,若在则执行步骤S4,若不在则重复步骤S2;步骤S4,停止调节所述TGS准直器开口高度;所述步骤S2中的两个评价指标中的第一个评价指标为所述待测量对象当前层各个体素面心的探测效率与体素中心点的探测效率之差的绝对值的最大值;所述第一个评价指标中的中心点是指单个体素的中心点。
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