[发明专利]用于EUV掩模版的表膜和多层反射镜有效
申请号: | 201410077948.7 | 申请日: | 2011-03-17 |
公开(公告)号: | CN103901737B | 公开(公告)日: | 2017-08-25 |
发明(设计)人: | A·亚库宁;V·班尼恩;E·鲁普斯特拉;H·范德斯库特;L·史蒂文斯;M·范卡朋 | 申请(专利权)人: | ASML荷兰有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F1/24;G03F1/62;G02B5/08;B82Y10/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 张启程 |
地址: | 荷兰维*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于EUV掩模版的表膜、多层反射镜和光刻设备,该光刻设备包括辐射源,配置成产生辐射束;和支撑件,配置成支撑图案形成装置。所述图案形成装置配置成将图案赋予辐射束以形成图案化的辐射束。腔定位在辐射源和图案形成装置之间。所述腔包含配置成反射辐射束的至少一个光学部件,所述腔配置成允许来自辐射源的辐射通过其中。隔膜(44)配置成允许辐射束通过并阻止污染物颗粒(54)通过隔膜的管道。颗粒捕获结构(52)配置成允许气体沿间接路径从腔内部流至腔外部。间接路径配置成基本上阻止污染物颗粒(58)从腔内部到达腔外部。 | ||
搜索关键词: | 用于 euv 模版 多层 反射 | ||
【主权项】:
一种用于阻止碎片与EUV掩模版接触的表膜,所述表膜包括石墨烯层,其中,所述表膜由表膜框架保持在离开掩模版一固定距离处;或者所述表膜定位在连接表膜的外边缘的支撑部件上,所述支撑部件能够从光刻设备和/或掩模版移除。
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