[发明专利]一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置有效
申请号: | 201410078836.3 | 申请日: | 2014-03-05 |
公开(公告)号: | CN103822713A | 公开(公告)日: | 2014-05-28 |
发明(设计)人: | 王建威;吕群波;裴琳琳;刘扬阳;张丹丹;钱路路;马原 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电研究院 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;赵镇勇 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明公开了一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法及装置,其中,所述方法包括:将两束波长不同、带宽相同的单色光耦合后输入所述光谱成像仪;调整所述两束单色光的中心波长间隔以及半高宽,并获取所述光谱成像仪的输出信号,对所述输出信号拟合处理得到信号的极大值和极小值,当所述极大值和所述极小值满足瑞利判据时,确定当前所述两束单色光的中心波长间隔Δλ以及半高宽dλ;根据 |
||
搜索关键词: | 一种 光谱 成像 分辨率 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光谱成像仪光谱分辨率检测方法,其特征在于,包括:将两束波长不同、带宽相同的单色光耦合后输入所述光谱成像仪;调整所述两束单色光的中心波长间隔以及半高宽,并获取所述光谱成像仪的输出信号,对所述输出信号拟合处理得到信号的极大值和极小值,当所述极大值和所述极小值满足瑞利判据时,确定当前所述两束单色光的中心波长间隔Δλ以及半高宽dλ;根据
得到理想单色光的最小分辨的波长间隔Δλ0。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电研究院,未经中国科学院光电研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410078836.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。