[发明专利]一种基于宽波束造影成像及提取灌注时间强度曲线的方法有效

专利信息
申请号: 201410081743.6 申请日: 2014-03-06
公开(公告)号: CN103860201A 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 万明习;王弟亚;杨萱;翟宇;钟徽 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: A61B8/06 分类号: A61B8/06
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 陆万寿
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于宽波束造影成像及提取灌注时间强度曲线的方法,通过基于PIWSSD的宽波束造影成像方法以提高CTR,并提供可快速准确提取宽波束造影成像TIC趋势的自适应分析方法,克服宽波束造影成像CTR降低及灌注评价曲线TIC的SCR降低的限制。本发明对于有效降低超声造影成像声功率与造影微泡灌注浓度、降低对人体可能损伤的可能、得到高CTR的造影图像并进行准确的血流灌注评价与诊断具有重要意义。
搜索关键词: 一种 基于 波束 造影 成像 提取 灌注 时间 强度 曲线 方法
【主权项】:
一种基于宽波束造影成像的方法,其特征在于,包括以下操作:1)基于Morgan模型修正的Herring‑Trilling微泡振动方程,构建适用于宽波束造影成像下的0/180相微泡母小波;2)超声阵列探头自发射宽波束射频信号,接收对象反射回来的射频信号;对超声阵列探头得到的0/180相的宽波束射频信号进行基于步骤1)得到的微泡母小波的小波相关性分析,在最佳小波变换尺度下提取最大小波相关系数,构建脉冲逆转微泡小波变换图像矩阵PIW;3)构造脉冲逆转插值平方和解相关阈值矩阵PISSD,对步骤2)得到的PIW矩阵进行解相关阈值判定,得到宽波束的造影成像图像PIWSSD。
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