[发明专利]具有内建测试驱动器的非易失性逻辑阵列有效
申请号: | 201410085363.X | 申请日: | 2014-01-28 |
公开(公告)号: | CN103971742B | 公开(公告)日: | 2019-08-30 |
发明(设计)人: | S·C·巴特林;S·康纳 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/06 | 分类号: | G11C16/06;G11C16/26;G11C29/12 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵蓉民 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种片上系统(SoC)提供被配置为n行乘m列位单元的非易失性存储器阵列。每个位单元被配置以存储数据位。m条位线的每条耦合至m列位单元的相应一列。m个写驱动器的每个耦合至m条位线的相应一条,其中该m个驱动器的每个包括写1电路和写0电路。所述m个驱动器可操作以响应于耦合到写1电路的第一控制信号将全1写入位单元的行中以及响应于耦合到写0电路的第二控制信号将全0写入位单元的行中。 | ||
搜索关键词: | 具有 测试 驱动器 非易失性 逻辑 阵列 | ||
【主权项】:
1.一种片上系统,即SoC,包括存储器阵列,其中所述存储器阵列包括:n行乘m列位单元,其中所述位单元的每个被配置以存储数据位;m条位线,所述位线的每条耦合至m列位单元的相应一列;m个写驱动器,所述写驱动器的每个耦合至m条位线的相应一条,其中所述m个写驱动器的每个包括写1电路和写0电路,其中所述m个写驱动器操作以响应于耦合到所述写1电路的第一控制信号将全1写入位单元的行中,并且其中所述m个写驱动器操作以响应于耦合到所述写0电路的第二控制信号将全0写入位单元的行中;其中所述m个写驱动器的每个进一步包括传输门,其被配置以在响应于第三控制信号而被激活时,允许偏移电压被供应至相应的位线,所述相应的位线在读访问期间耦合到对应于所述位线的所述位单元的感测放大器的感测节点。
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