[发明专利]一种调节硅化钛/硅肖特基接触势垒的方法有效
申请号: | 201410093312.1 | 申请日: | 2014-03-14 |
公开(公告)号: | CN103904132B | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 蒋玉龙;彭雾;王琳琳 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/08;H01L29/47 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司31200 | 代理人: | 陆飞,盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于微电子技术领域,具体为一种调节硅化钛和硅之间肖特基接触势垒的方法。本发明通过向硅化钛薄膜中引入适量氧原子,形成硅化钛(TiSix,内含氧原子)/硅肖特基接触结构,实现对硅化钛与硅之间肖特基接触势垒的有效调节。相比普通硅化钛/硅肖特基整流二极管的工艺流程,本发明只需要增加一步氧原子的引入工艺,就可获得明显的接触势垒调节,整个工艺步骤简单易行,具有良好的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 调节 硅化钛 硅肖特基 接触 方法 | ||
【主权项】:
一种调节硅化钛/硅肖特基接触势垒的方法,其特征在于具体步骤为:向硅化钛/硅肖特基整流二极管中的硅化钛薄膜中引入适量氧原子,实现接触势垒调节;所述引入氧原子的方法有两种,它们分别是:(1)在硅衬底上淀积金属钛膜后,通过离子注入或扩散方式将氧原子引入到金属钛膜中,再利用退火过程,使金属钛膜与衬底硅发生固相反应,在形成硅化钛/硅肖特基整流接触的同时,将氧原子掺入形成的硅化钛薄膜中;(2)在硅衬底上淀积金属钛膜后,先利用退火过程使金属钛与衬底硅发生固相反应,生成硅化钛/硅肖特基整流接触,再利用离子注入或扩散工艺将氧原子引入到硅化钛薄膜中,并进行适当的后退火处理。
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